以前的多晶硅（p-si）要求的沉积温度高，对基于玻璃的LCD制造来说是不现实的。然而，今天的LTPS技术已经克服了很多诸如此类的制造问题，并且其固有的高速度还为显示器提供了看得见的好处。基于玻璃的p-si的另外一个优势在于，其驱动器芯片也可以采用同样的工艺进行生产，从而节省了空间，提高了可靠性。随着用于低温环境的新型低成本制造方法的开发，p-si显示技术将会继续获得多元化应用，取得一定市场占有率。他们将很快发展成智能型、高附加价显示器，除了门阵列驱动器外，最终也会将存储器和CPU集成在里面。同当代a-si或p-si技术相比，这些“基于玻璃的系统（System On Glass）”类型的FPD需要的电力比较少，能产生更明亮的图像，具有更快的反应速度，能提供更高的分辨率，而且需要的外部电路更少。
LTPS显示器需要进行更多的测试，因为他们除了像素TFT外，还带有其他控制器件，而且其应用倾向于视频。这些测试包括驱动器IC测量、带有时钟信号的数码测试，和检查高频操作特性。因此，同传统的a-si产品相比，较高的测试产量显得相当重要。如果p-si有源器件外形非常小，并且在较小电流时的工作效率更高，那么相较a-si器件来说，对他们进行测试时就需要更高的敏感度。
否则，就要对p-si FPD进行类似参数测试，所有测量问题与a-si技术相同。然而，辅助信号源和仪器却使LTPS测试系统单元间的整合成为另一问题，其中包括参数测试仪接口、同步和软件的兼容性。
当用于视频领域的高速AMLCD于1990年出现的时候，Keithley就开发了一整套高速工序监控系统解决方案，帮助显示器OEM厂商提高生产量和更容易地控制产品质量。由于LTPS允许将驱动器和其他电路集成在一块玻璃上，Keithley的TEG系统增加了脉冲和射频能力，以支持专用高速功能测试。这些功能可与早期用于生产过程的TEG测试系统组合使用，因此避免了昂贵的包装环节，即达到了商业化的纠正和修理要求。
Keithley提供各种不同的测试平台，允许LTPS显示器OEM厂商对测量敏感度和生产量进行优化。当遇到超低电流测量问题时，S400自动化参数测试(APT)系统可通过其完全布线应用程序，提高测试产量。当同时要求超低电平测量和较高的测试产量的时候，为了扩展S400应用中的测量敏感度，4200-SCS通过系统矩阵，连接到四个独立的像素探针卡。采用这种布局，DUT端的电流敏感度可达到1-2fA。当然，也可以采用其他许多硬件对系统进行优化，以满足特殊应用的要求。
作者：Charles Cimino and David Rose。进一步信息，请参考美国吉时利仪器公司（Keithley Instruments, Inc.）技术白皮书《New Test Realities for Evolving FPD Technologies》，网址为http://www.keithley.com/data?asset=10558。
