有机电致发光(OEL)FPD器件正在快速走向商业化，其中包括有源和无源产品。
目前，人们正在开发各种基于大分子聚合物的发光聚合体(LEP)器件。该技术由英国剑桥大学Burroughes等人发明，目前正在不断向小尺寸和低速度/分辨率领域迈进，如蜂窝电话、数码“墨水和纸张”、织品、问候卡、window/POP广告装置等。
就目前公布的资料，聚合体显示器的优势在于其快速旋转玻璃基体上的功能层的能力，并且在某些情况下，还可以在胶片上印刷图案，因此从理论上讲很容易实现简单、低成本的有源点阵显示器，以及(比较高的成本时)较高清晰度的显示器。其中，后者带有由各种不同的发射器组成细微斑纹，用以显示全色彩图像。
OLED器件基于柯达（Kodak）公司的小分子技术，能兼容大多数半导体工艺，但是其制造过程比LEP复杂得多。然而，他们却是高数据内容和视频宽带显示领域的领先者，如监视器和电视等。在这些应用中，几乎可以确定地说，他们将会推倒基于矽技术的LCD的主导地位，因为目前很多研究机构和新兴公司正在着手这方面的工作。(到目前为止，还没有人能够成功地将无机LED阵列整合到一个新的密度水平——与有源点阵OLED显示器可能达到的密度一样高。)
材料的寿命仍然是限制OEL FPD技术推广应用的一个关键因素，因此研发测试的重点应该集中在对以下项目的评估：材料、工艺，以及器件的光输出量与工作寿命之间的关系。这样的系统目前已经有所需求，因为在即将来临的产品和工艺开发过程中，只要对其进行较小的修正，就可以用来对显示器件的特性进行分析，以检测实施中的工艺，帮助制造商提升产量和质量曲线。
要开发用于OLED应用的这类系统，可以如通过Keithley的仪器级解决方案，如同时具有精密电流和电压测量能力的SourceMeter系列电流源表和电压源表。此外，这些核心层I-V工具可提供系统级兼容性，兼容其他仪器和高密度开关系统，如2000系列DMM、7000系列开关主机架，以及2700系列集成化数据记录仪。这些仪器可组合到多种多样的配置中，以创建手动和自动测试系统，对寿命、I-V、光-电流-电压(LIV)性能进行评估和检测。
与OLED测试有关的问题之一是，这些结构中的电容值比较高。虽然许多必须的测量项目与AMLCD器件相同，但是测试系统和测量方法必须能够在不过分增加测试时间的情况下，处理比较高的电容值。另外，如果OEL FPD的像素是有源发光器件，那么同时在DC和脉冲DC操作环境下对LIV性能进行描述是相当重要的，这就带来了额外的测试复杂性。
面向OLED和LEP领域的研究人员和工艺开发工程师，Keithley通过整合自己在传统半导体和特种激光二极管测试方面的经验，开发了I-V和LIV特性测试仪器和分析系统。为了满足新兴生产系统方面的电气测试需求，Keithley量身定做的仪器和系统平台不但适合先进器件的测量，同时还满足大测试产量和紧密集成的功能性测试系统的要求。
通过优化2400系列和2500 SourceMeter I-V系列以及LIV特性分析系统的能力，并将他们与高密度开关系统组合，Keithley提供范围为数十至数百个通道的测试解决方案。这样，通过与客户密切合作，就可以为原型设计或大量生产系统，创建具有丰富的专有性能和价格范围的排/列I/O。
作者：Charles Cimino and David Rose。进一步信息，请参考美国吉时利仪器公司（Keithley Instruments, Inc.）技术白皮书《New Test Realities for Evolving FPD Technologies》，网址为http://www.keithley.com/data?asset=10558。
