【产通社，3月9日讯】致茂电子（Chroma ATE Inc.；TWSE股票代码：2360）官网消息，2019 SEMICON China（3月20-22日）期间，其将于上海新国际博览中心（SNIEC）摊位号3171展出崭新的半导体测试解决方案。

电池包检测技术于电动汽车保养服务

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统，可提供高达2048个I/O通道、数位通道速率（data rate）最高可达1Gbps、最高512个并行测试的能力及512M Word测试资料记忆体深度，以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。应用范围包含微控制器（MCU）、数位音讯、数位电视、机顶盒、数位信号处理器（DSP）、网路处理器（Network Processor）、现场可程式逻辑门阵列（FPGA）及消费性电子IC应用市场等测试方案。

HDAVO（High Density Audio Video Option）高性能混和讯号解决方案，为Chroma 3680的选购模组，拥有可同时输出的8个差动源模组（AWG）和同时接收的8个差动测量模组（DGT），且在每一个差动源模组（AWG）上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组（DGT）上能提供高达250Msps的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，适用于标准的基频、视讯、音讯、图形、STB以及DTV等广泛的混合讯号测试应用。

搭配于3680上所开发的CRISPro软体套件，让使用者可以用图形化介面（GUI）或程式语言做测试程式的开发，加上支援可同时测试（Concurrent Testing）的功能，以降低测试程式的时间，加快产品的量产速度。

经济且弹性高之完整ATE测试功能

Chroma 3380为一经济且弹性极高之ATE自动测试系统，最高可以提供1,280通道，速率最高可达100Mbps、并提供1024个并行测试能力。不仅具有多样性模拟（analog）信号的仪器板卡可供选择，更具备各种常见ATE系统之转换软件与硬件模块，让转移平台快速方便，降低整体测试成本（COT）。此外，3380可以完整整合射频测试仪MP5806。同时，支持Direct Mount和Cable Mount的测试方案，拥有4/8 RF Port及120MHz频宽，涵盖6GHz范围内的无线测试规范，应用范围包含Wi-Fi/BT/GNSS/Tuner/NB-IoT/LoRa等无线通讯与IoT应用及RF元件测试（PA/LNA/Converter等），提供RF/Digital全方位ATE（CP/FT/SLT）测试解决方案。

Chroma 33010 PXIe架构之自动测试系统（ATE），具完整ATE功能，对于价格更敏感的客户，提供符合未来PXI测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在 IoT 及车用感测IC测试上，PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上具有优势。应用范围包含微控制器、微机电（MEMS）感测器、射频IC（RF IC）及电源IC（PMIC）等测试方案。

全温度控制范围，确保IC最终品质

Chroma 3110S双用型单测头的Pick & Place测试分类机，支援各种不同类型封装晶片，如BGA、μBGA、QFP系列、QFN、Flip-Chip与TSOP等，并可支援至120mm封装尺寸. 内建全温度范围控制模组（Full range Thermal Control Unit），可提供高功率主动式温控系统（High Power Cooling ATC），温度范围-40°C至150°C±3°C选配高规格温控器可达-55°C至175°C±3°C的温控能力，并支援压测力量220Kgf的特殊需求，符合各类产品线综合应用，绝对是工程验证和小批量量产的理想设备。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.chroma.com.cn/product/list/semiconductor_ic_test_solution.htm。（Lisa WU, 365PR Newswire）    （完）