【产通社，10月7日讯】日置电机株式会社（HIOKI Group）官网消息，其已经开始发售了阻抗分析仪IM7587。新产品具有任意设置多种频率，并以此设定值为基础判断合格与否的点判断功能，可以搭配SMD治具IM9201。主要用途包括：电子元件生产厂家内的电子元件的出货检查和特性评估，电子设备生产厂家内的电子元件的验货检查和特性评估，以及高校研究所内的电子元件的特性评估。


产品特点


在信息化发展的现在，智能手机等移动设备能够适用于LTE、Wi-Fi、GPS等，而高频化的发展也让其带宽达到数GHz。同时，移动设备中所使用的高频感应器或铁氧体磁珠之类的电子元件也趋于高频化。这些电子元件需要按照从数百MHz到数GHz的高频来进行特性评估，所以高频的测量仪器的需求也随之增加。新产品测量频率达到了1MHz至3GHz，能够完全满足现在高频电子元件的测量仪器。

IM7587产品测量时间最短0.5ms（模拟测量时间），测量范围100mΩ至5kΩ，测量频率1MHz至3GHz，测量信号电平-40.0dBm至+1.0dBm（4mV至502mV）。主要特点包括：
 - 可进行最高3GHz的稳定的高频测量。IM7587的测量频率是1MHz至3GHz。在改变频率的同时进行测量的分析仪的模式下宽频带的话则可以进行偏差较小的稳定的阻抗评估，因此能够从电子元件的开发到生产线上等各种领域内使用。
 - 最短0.5ms的高速测量，有助于提高生产性。
 - 最短0.5ms（0.0005秒）的高速测量。因此，对于希望能够快速检查大量电子元件的生产厂家来说，大幅提高了生产效率。
 - 主机尺寸小巧，降低生产成本。
 - 和去年发售的IM7580系列同样小巧、轻便。电子元件生产厂家的生产线中，可以实现为了提高空间效率的检查系统的小型化，以及通过同时安装多台来缩短检查时间，从而降低生产成本。而且，这类  - 测量仪器非常的轻巧方便携带，能够在研发、品保、生产线等多种场合同时使用，放在桌上也不会占太多空间。
 - 各种判定功能，判断合格与否。
 - 单一频率测量的LCR测试仪模式下，有判断电子元件合格与否的比较器功能、挑选电子元件的BIN功能。比较器功能是设置上下限值，并以其为判断标准进行合格与否的判断。相对于以1个判断标准判断合格与否的比较器功能，BIN功能最多可以设置10种判断标准，并进行排名。
 - 多种频率测量的分析模式下，有从电子元件的频率特性中能判断合格与否的区域判定、峰值判定。区域判定是确认测量值是否进入任意设置的判定区域内的功能。峰值判定是判定共振点的功能。

与IM7587搭配的SMD用治具（IM9201）是适用于高频电子元件的测量治具，最高可测3GHz。和IM7587组合使用，能够在这类电子元件测量中发挥威力。


供货与报价


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