【产通社，1月29日讯】牛津仪器（Oxford Instruments）官网消息，其最新款MAXXI 6高性能X射线荧光测厚仪，可提供高精度、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的一致性和高品质。MAXXI 6在五金电镀行业、RoHS/WEEE/ELV一致性检验、电子行业、金属合金行业、能源行业等都表现出了卓越的成分分析能力，可进行多镀层厚度的测量，可为电路板、电子元件或批量零件的镀层厚度测量，以及贵金属镀层厚度测量，如银层测厚、金层测厚、铬层测厚等提供理想的解决方案。

牛津仪器Roentgenanalytik GmbH的全球服务及台式X荧光设备总经理NEUHAUSEN Olaf先生说：“我们一直致力于研发高端而又简单易用的镀层测厚仪，而MAXXI 6正好满足了这两项要求，目前市场上还没有产品能够达到这个标准。”

产品特点

MAXXI 6镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术所开发，配备最先进的高分辨率硅漂移器（SDD）、多准直器系统及开槽式超大样品舱设计，针对较薄而复杂的样品，具有完美的解决方案。

MAXXI 6可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。MAXXI 6主要特点包括：
  ·最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正；
  ·同时实现多于25种元素的定量分析；
  ·德国制造，符合最高工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性；
  ·通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足最高辐射安全标准。

供货与报价

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.oxford-instruments.com。