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欧盟2006年发布的半导体芯片标准
2007/2/1 13:51:08    产通学院,365PR NET

欧盟2006年发布的半导体芯片最新标准,以下内容依次为标准号、英文标题、中文标题、技术机构、出版日期:
 
EN 61788-7:2006
 Superconductivity -- Part 7: Electronic characteristic measurements - Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
 超导电性  -  -第7部分:电子特性测量  -  微波频率下超导体的表面电阻
 CLC/SR 90
 2006-12-12

EN 61788-10:2006
 Superconductivity -- Part 10: Critical temperature measurement - Critical temperature of composite superconductors by a resistance method
 超导电性---第10部分:临界温度的测定---化合物超导体的临界温度,电阻法
 CLC/SR 90
 2006-10-18
 
EN 60749-35:2006
 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
 半导体器件---机械和气候试验方法---第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检验方法
 CLC/SR 47
 2006-09-20
 
EN 62047-2:2006
 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
 半导体器件---微型机电器件---第2部分:薄膜试验材料的张力试验方法。
 CLC/SR 47
 2006-09-20
 
EN 62047-3:2006
 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
 半导体器件---微型机电器件---第3部分:张力试验的薄膜标准试验
 CLC/SR 47
 2006-09-20

EN 62258-5:2006
 Semiconductor die products -- Part 5: Requirements for information concerning electrical simulation
 半导体芯片产品---第5部分:电气模拟信息要求
 CLC/BTTF 97-1
 2006-09-15

EN 62258-6:2006
 Semiconductor die products -- Part 6: Requirements for information concerning thermal simulation
 半导体芯片产品---第6部分:热模拟信息要求
 CLC/BTTF 97-1
 2006-09-15

EN 61747-3:2006
 Liquid crystal display devices -- Part 3: Liquid crystal diplay (LCD) cells - Sectional specification
 液晶显示器---第3部分:液晶显示器(LCD)电池---分规范
 CLC/SR 110
 2006-09-29

EN 62384:2006
 DC or AC supplied electronic control gear for LED modules - Performance requirements
 LED模块的DC 或 AC供电控制---性能要求
 CLC/TC 34Z
 2006-09-27

EN 62047-1:2006
 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions
 半导体器件---微电机器件---第1部分:术语和定义
 CLC/SR 47
 2006-06-16

EN62132-4: 2006
 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz -- Part 4: Direct RF power injection method
 集成电路—抗150kH至1GHz电磁干扰的测量---第4部分:直接RF功率发射方法
 CLC/SR 47A
 2006-05-19


查询最新电子工业标准信息,请联络中国电子工业标准化技术协会,网址是http://www.cesa.cn/

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