| 电子行业标准(8)：功率放大管、阴极射线、场效应半导体 |
| 2007/1/31 16:53:32 中华人民共和国信息产业部 |
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SJ 1100-76 半导体集成电路外形尺寸
SJ 1103-76 半导体闸流管(可控整流器)测试方法总则
SJ 664-73 非线绕电位器试验方法
SJ 671-83 DW-270电真空玻璃主要技术数据
SJ 681-83 DB-456电真空玻璃主要技术数据
SJ 707-73 脉冲闸流管击穿时间的测试方法(暂行)
SJ 718-73 闸流管与充气整流管工作稳定性的测试方法
SJ 725-73 闸流管与充气整流管阴极与灯丝间最大允许电压的测试方法
SJ 743-73 光六角特扁细牙螺母
SJ 831-74 金属陶瓷发射管放大系数的测试方法
SJ/Z 881-74 DB-402牌号电真空玻璃化学分析方法
SJ/Z 884-74 DB-413牌号电真空玻璃化学分析方法
SJ 2235.2-82 硼硅玻璃的化学分析方法
SJ 2235.12-82 玻璃中少量锌、铅的极谱测定法
SJ 929-75 锌锰干电池包装
SJ 937-75 小功率薄膜电阻器陶瓷基体尺寸系列
SJ 939-74 信息处理交换用的七单位字符编码
SJ/Z 941-75 电真空器件用钨钼材料的电阻率测试方法
SJ 2257-82 电子测量仪器基本安全试验
SJ 951-75 荧光数字符号指示管测试条件
SJ 953-75 荧光数字符号指示管栅极电流的测试方法
SJ 961-75 X射线管总技术条件
SJ 970-84 L6型射频连接器
SJ 1020-75 直接辐射电动式扬声器技术条件
SJ 1033-76 电子管参数符号
SJ 1039-76 气导式抗噪声送话器电声试验方法
SJ 1070-76 电子元、器件低温技术要求等级和试验方法
SJ 1075-76 电子元、器件恒定湿热技术要求等级和试验方法
SJ 1078-76 电子元、器件碰撞技术要求等级和试验方法
SJ 691-83 电真空玻璃热稳定性的测试方法
SJ 701-73 脉冲闸流管脉冲管压降的测试方法
SJ 723-73 闸流管与充气整流管栅极与其他电极绝缘电阻的测试方法
SJ 744-73 铆装圆螺母
SJ 805-74 辉光放电显示管总技术条件
SJ 824-74 小功率电子管等效噪声电阻的测试方法
SJ 849-74 真空电容器峰值试验电压测试方法
SJ 855-74 真空电容器最大转动力矩测试方法
SJ 856-74 真空电容器转动寿命测试方法
SJ 858-74 铁氧体中波天线磁芯
SJ/Z 887-74 DB-494牌号电真空玻璃化学分析方法
SJ/Z 890-74 DH-704牌号电真空玻璃化学分析方法
SJ 2235.4-82 铝硅玻璃及锌硅玻璃的化学分析方法
SJ 898-74 FSW50型手摇发电机
SJ 930-75 半导体调幅广播收音机用中频变压器
SJ 938-75 圆形金属外壳电容器外形尺寸系列
SJ 955-75 荧光数字符号指示管栅极截止电压测试方法
SJ 1022-75 高压及大功率薄膜电阻器瓷管尺寸系列
SJ 1025-76 CL10型涤纶电容器
SJ 1040-76 接触式抗噪声送话器电声试验方法
SJ 1049-76 电子管电极帽连接尺寸
SJ 1072-76 电子元、器件温度冲击技术要求等级和试验方法
SJ 1073-76 电子元、器件温度循环技术要求等级和试验方法
SJ 1136-77 射频电缆衰减常数测量方法
SJ 1137-77 射频电缆高温试验方法
SJ/T 1155-93 敏感元器件及传感器型号命名方法
SJ 1182-77 X射线管X射线剂量率的测试方法
SJ 1232-77 聚苯乙烯电容器总技术条件
SJ 726-73 闸流管与充气整流管反向栅极电流的测试方法
SJ 727-73 陶瓷滤波器型号命名方法
SJ 2181-82 压电滤波器型号命名方法
SJ 753-73 碱性镉镍单体及组合蓄电池
SJ 806-74 辉光放电显示管测试条件
SJ 808-74 辉光放电字码管熄灭电压的测试方法
SJ/Z 879-74 DM-346牌号电真空玻璃化学分析方法
SJ 2235.9-82 焊料玻璃的化学分析方法
SJ 950-75 荧光数字符号指示管总技术条件
SJ 1099-77 超高真空蒸发设备参数系列
SJ 1231-77 锗开关二极管反向恢复时间的测试方法
SJ 1272-77 信息交换用9磁道32行/毫米记录磁带
SJ 1299-78 连续波磁控管频率牵引的测试方法
SJ 1300-78 连续波磁控管稳定性的测试方法
SJ 1239-77 CB80型高压聚苯乙烯电容器
SJ 1305-78 连续波磁控管泄漏功率的测试方法
SJ 1309-78 电压调谐磁控管输出功率的测试方法
SJ 1327-78 固定电容器试验方法
SJ 1334-78 光电管总技术条件
SJ 1337-78 光电管灵敏度的测试方法
SJ 1347-78 光电管最大阳极电流的测试方法
SJ 1362-78 光电倍增管阳极特性的测试方法
SJ 1432-78 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则(暂行)
SJ 1433-78 寿命试验和加速寿命试验数据处理方法-图估计法(暂行)
SJ 1440-70 短波单边带接收机电性能测量方法
SJ/Z 1456-79 通用多束阴极射线示波器测试方法
SJ 1460-79 脉冲信号发生器测试方法
SJ/Z 1503-79 软磁材料成品、半成品化学分析方法
SJ 1527-79 半导体集成电路CMOS电路系列和品种(暂行)
SJ 804-74 有线电通信设备型号命名方法
SJ 810-74 辉光放电字码管工作电压的测试方法
SJ 821-81 厚膜、薄膜集成电路外形尺寸
SJ 823-74 小功率电子管低频杂音的测试方法
SJ 2235.6-82 铅钙硅玻璃的化学分析方法
SJ 2235.7-82 锌钙硅玻璃的化学分析方法
SJ 2235.10-82 玻璃中某些少量元素的测定方法
SJ 2235.11-82 原子吸收分光光度法测定电真空玻璃中钙、镁、铁、钾、钠、锂、钴、镍、铅、锌、钡、锶
SJ 1044-76 可靠性名词术语
SJ 1080-76 电子元、器件离心加速度技术要求等级和试验方法
SJ 1098-77 高真空蒸发设备参数系列
SJ 1101-76 半导体闸流管(可控整流器)二类总技术条件
SJ 1132-77 实心聚乙烯绝缘射频电缆
SJ 1134-77 射频电缆电容和电容不平衡系数测量方法
SJ 1142-82 精密单圈线绕电位器总技术条件
SJ 1146-77 电容器用有机薄膜体积电阻系数试验方法
SJ 1180-77 X射线管光学焦点尺寸的测试方法
SJ 1224-77 真空蒸发设备通用技术条件
SJ 1234-77 CB11型聚苯乙烯电容器
SJ 1288-78 计数抽样检查程序及抽样表
SJ 1311-78 电压调谐磁控管电压调谐灵敏度的测试方法
SJ 1336-78 光电管测试条件
SJ 1349-78 光电倍增管阴极灵敏度的测试方法
SJ 1350-78 光电倍增管阳极灵敏度的测试方法
SJ 1351-78 光电倍增管电流增益的测试方法
SJ 1353-78 光电倍增管线性电流的测试方法
SJ 1373-78 传真机型号命名方法
SJ 1435-78 寿命试验和加速寿命试验数据处理方法-最好线性无偏估计法(暂行)
SJ 1489-79 振荡和功率放大管对阴极具有正电位的栅极电流的测试方法
SJ 2235.1-82 电真空玻璃分析方法总则
SJ 2235.8-82 铅钡硅玻璃的化学分析方法
SJ 912-74 2CZ50～60硅半导体整流二极管
SJ 945-82 电子测量仪器质量检验规则
SJ 962-75 硅开关二极管测试方法总则
SJ 1046-76 信息处理用80列穿孔纸卡片的尺寸
SJ 1068-76 电子束管参考线量规尺寸
SJ 1069-76 电子元、器件基本环境技术要求等级和试验方法总则
SJ 1104-76 半导体闸流管热敏斜率的测试方法
SJ 1107-76 半导体闸流管控制极触发电压、触发电流的测试方法
SJ 1109-76 半导体闸流管浪涌电流的测试方法
SJ 1119-76 半导体闸流管通态特性的全波动态的测试方法
SJ 1174-77 X射线管测试条件
SJ 1298-78 连续波磁控管振荡频率的测试方法
SJ 1307-78 电压调谐磁控管阳极电流和控制极电流的测试方法
SJ 1400-78 半导体器件参数符号
SJ 1333-78 电视接收机用偏转磁芯
SJ 1335-78 光电倍增管总技术条件
SJ 1368-78 半导体收音机用薄膜介质可变电容器总技术条件(暂行)
SJ 1434-78 寿命试验和加速寿命试验数据处理方法-简单线性无偏估计法(暂行)
SJ 1490-79 振荡和功率放大管第一栅极电流截止电压的测试方法
SJ 1495-79 振荡和功率放大管单边带双音互调失真的测试方法
SJ 1509-79 CA型固体电解质烧结钽电容器
SJ 1530-79 半导体集成电路HTL电路系列和品种(暂行)
SJ 1548-79 厚膜、薄膜集成电路型号命名方法
SJ 1561-80 摄像管总技术条件
SJ 1697-80 透射式电视摄像畸变测试图
SJ 1700-80 透射式电视摄像线性灰度测试图
SJ 1715-81 功率速调管调幅-调相转换系数的测试方法
SJ 850-74 真空电容器频率特性曲线测试方法
SJ 859-79 铁氧体短波(ｆ≤18MHz)天线磁芯
SJ/Z 885-74 DB-456牌号电真空玻璃化学分析方法
SJ 952-75 荧光数字符号指示管灯丝电流的测试方法
SJ 1110-76 半导体闸流管维持电流的测试方法
SJ 1128-77 电影放映用扬声器系统电声参数和要求
SJ 1147-77 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电系数试验方法
SJ 1153-77 集成电路制图规则
SJ/Z 1154-77 热敏电阻器名词术语
SJ 1175-77 X射线管最大反向峰值电压的测试方法
SJ 1223-77 二进制逻辑电路图形符号
SJ/Z 1251-77 电位器名词术语
SJ 1271-77 陶瓷装置零件公差
SJ 1301-78 连续波磁控管频率温度系数的测试方法
SJ 1303-78 连续波磁控管工作特性的测试方法
SJ 1306-78 电压调谐磁控管测试条件
SJ 1318-78 彩色显像管测试方法(暂行)
SJ 1341-78 光电管击穿电压的测试方法
SJ 1342-78 光电管光谱响应特性的测试方法
SJ 1360-78 光电倍增管渡越时间分散的测试方法
SJ 1401-78 普通单圈旋转式非线绕电位器总技术条件
SJ 1441-78 短波单边带发射机电性能测量方法
SJ 1445-78 CJ11型金属化纸介电容器
SJ 1501-79 电子设备用低压直流稳压电源基本参数要求及测量方法
SJ 2811.1-87 通用直流稳定电源术语及定义、性能与额定值
SJ 1502-79 半导体集成电路TTL电路系列和品种
SJ/Z 1504-79 永磁材料成品、半成品化学分析方法
SJ/Z 1505-79 旋磁材料成品、半成品化学分析方法
SJ 1507-79 微调瓷介电容器试验方法
SJ 928-75 锌锰干电池试验方法
SJ 968-75 硅开关二极管反向恢复时间的测试方法
SJ 1026-76 CL11型涤纶电容器
SJ 1032-76 矩形金属外壳电容器外形尺寸系列
SJ 1042-76 R20锌锰电池
SJ 1071-76 电子元、器件高温技术要求等级和试验方法
SJ 1135-77 射频电缆特性阻抗测量方法
SJ 1139-77 射频电缆电容和衰减稳定性试验方法
SJ 1148-77 电容器用有机薄膜击穿强度试验方法
SJ 1155-82 敏感电阻型号命名方法
SJ 1164-77 钎焊、封接代号及标注方法
SJ 1178-77 X射线管最高工作电压的测试方法
SJ 1179-77 X射线管超电压的测试方法
SJ 1184-77 X射线管固有滤过当量的测试方法(暂行)
SJ/Z 1268-77 金属镀覆及化学处理常用名词术语
SJ 1273-77 信息交换用七单位字符编码在磁带上的表示方法
SJ/Z 1319-78 电真空用钨中杂质的光谱分析方法
SJ 1343-78 光电管伏安特性的测试方法
SJ 1344-78 光电管频率响应特性的测试方法
SJ 1357-78 光电倍增管脉冲上升时间的测试方法
SJ 1361-78 光电倍增管光谱响应特性的测试方法
SJ 1364-78 光电倍增管稳定性的测试方法
SJ 1370-78 CBM-443BF、CBM-403BF型调频调幅四联薄膜介质可变电容器(暂行)
SJ 1564-80 计数管测试条件
SJ 1569-80 计数管能量分辨率的测试方法
SJ 1597-80 X射线管寿命试验方法
SJ 1669-81 有线调制解调器技术条件
SJ/Z 1675-81 印制线路板设计
SJ 1113-76 半导体闸流管换向关断时间的测试方法
SJ 1140-77 射频电缆流动性试验方法
SJ 1145-77 电容器用有机薄膜电性能试验方法一般要求
SJ 1296-78 连续波磁控管测试条件
SJ 1348-78 光电倍增管测试条件
SJ 1352-78 光电倍增管暗电流的测试方法
SJ 1355-78 光电倍增管幅度分辨率的测试方法
SJ 1461-84 高频信号发生器技术条件
SJ 1571-80 计数管过负荷照射量率的测试方法
SJ 1577-80 显示用电子束管管壳总技术条件(暂行)
SJ 1730-81 WH112型合成碳膜电位器
SJ 1759-81 日用电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件
SJ/Z 1766-81 软磁铁氧体材料系列及测试方法
SJ 1858-81 电子陶瓷材料滑石中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ 1864-81 KND1型波动开关
SJ 1870-81 气体激光器总技术条件
SJ 1951-81 场效应半导体管栅极漏电流的测试方法
SJ 1958-81 场效应半导体管正向跨导的测试方法
SJ 1960-81 场效应半导体管反馈电容的测试方法
SJ 1961-81 场效应半导体管等效输入噪声电压的测试方法
SJ 1966-81 场效应半导体管开启时间和关断时间的测试方法
SJ 2032-82 振荡器用石英谐振器总技术条件
SJ 2069-82 光纤尺寸
SJ 2074-82 派生E型磁芯尺寸系列
SJ 2079-82 电子测量仪器冲击试验
SJ 2087-82 涂料涂覆分类、选择和标记
SJ 2110-82 软磁铁氧体材料减落系数测试方法
SJ 2117-82 双脊波导管(带宽比为2.4∶1)
SJ 2123-82 双脊波导法兰盘(带宽比为3.6∶1)
SJ 2156-82 吸气剂性能测试方法通则
SJ 1115-76 半导体闸流管通态电流临界上升率的测试方法
SJ 1167-77 阴极射线荧光粉 Y10荧光粉
SJ 1169-77 阴极射线荧光粉 Y30荧光粉
SJ 1176-77 X射线管最大功率的测试方法
SJ/Z 1320-78 电真空用钼中杂质的光谱分析方法
SJ 1326-78 固定电阻器试验方法
SJ 1340-78 光电管线性电流的测试方法
SJ 1345-78 光电管稳压性的测试方法
SJ 1358-78 光电倍增管脉冲响应宽度的测试方法
SJ 1367-78 电子元器件密封性试验方法
SJ 2680-86 钮子开关总规范
SJ 1528-79 半导体集成电路ECL电路系列和品种(暂行)
SJ 1557-80 旁热型负温度系数热敏电阻器总技术条件
SJ 1588-80 钨板
SJ 1696-80 透射式电视摄像分辨率测试图
SJ 1698-80 透射式电视摄像专用畸变测试图
SJ 1699-80 透射式电视摄像重合测试图
SJ 1736-81 通信用送话器电声试验方法
SJ 1782-81 电子陶瓷零件公差
SJ 1868-81 直观储存管测试方法
SJ 1889-81 电子测量仪器可靠性试验方法
SJ 1952-81 场效应半导体管栅源短路时漏极电流的测试方法
SJ 1964-81 场效应半导体管高频功率增益的测试方法
SJ 1971-81 场效应半导体对管栅源短路时漏极电流比的测试方法
SJ/Z 2021-82 不合格品数图(Pn图)
SJ 2055-82 传声器的分类与基本参数
SJ 2080-82 电子测量仪器运输试验
SJ 2171-82 一般电子产品运输包装基本试验方法 振动
SJ 2173-82 一般电子产品运输包装基本试验方法 堆码
SJ 2243.2-82 反射式电视摄像机线性测试图 A型
SJ 2334-83 电话交换机型号命名方法
SJ 1117-76 半导体闸流管控制极平均功率的测试方法
SJ 1118-76 半导体闸流管控制极反向峰值电压的测试方法
SJ 1138-77 射频电缆低温试验方法
SJ 1181-77 X射线管辐射场形状和尺寸的测试方法
SJ 1235-77 CB14型精密聚苯乙烯电容器
SJ/Z 1275-77 电子设备设计文件编制示例
SJ 1302-78 连续波磁控管电子频移(频率推移系数)的测试方法
SJ 1304-78 连续波磁控管负载特性的测试方法
SJ 1313-78 电压调谐磁控管频率稳定性的测试方法
SJ 1316-78 电压调谐磁控管寄生振荡信噪比的测试方法
SJ 1317-78 电压调谐磁控管泄漏功率的测试方法
SJ 1346-78 光电管最大阳极电压的测试方法
SJ 1354-78 光电倍增管信号脉冲幅度的测试方法
SJ 1359-78 光电倍增管渡越时间的测试方法
SJ 1363-78 光电倍增管阴极均匀性的测试方法
SJ 1372-78 塑料制件尺寸公差
SJ 1374-78 电传打字机型号命名方法
SJ 1404-78 接插元件测试方法
SJ 1525-79 KN6型钮子开关
SJ 1529-79 半导体集成电路运算放大器系列和品种(暂行)
SJ 1566-80 计数管伏安特性及斜率的测试方法
SJ 1573-80 计数管绝缘电阻的测试方法
SJ 1663-80 可变玻璃真空电容器外形基本尺寸
SJ 1665-80 可变陶瓷真空电容器外形基本尺寸
SJ 1681-80 3DA150型NPN硅高频大功率三极管
SJ 1684-80 3DD200型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1685-80 3DD201型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1688-80 3DD204型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1797-81 印制板金属化镀层厚度测试方法-微欧电阻法
SJ 1809-81 硅普通变容二极管反向电流的测试方法
SJ 1258-77 磁性材料与器件术语及定义
SJ 1264-77 三相变压器用E形铁芯
SJ 1297-78 连续波磁控管输出功率的测试方法
SJ 1308-78 电压调谐磁控管工作频率范围的测试方法
SJ 1314-78 电压调谐磁控管电压调谐与频率对应值的测试方法
SJ 1338-78 光电管放大因数的测试方法
SJ 1365-78 光电倍增管最大阳极电压的测试方法
SJ 1366-78 光电倍增管最大阳极电流的测试方法
SJ 1399-78 电子产品及材料霉菌试验方法
SJ 1447-78 CJ40型密封金属化纸介电容器
SJ 1459-79 脉冲信号发生器技术条件
SJ 1493-79 振荡和功率放大管振动稳定性的测试方法
SJ 1508-79 固体电解质钽电容器总技术条件(暂行)
SJ 1513-79 射频电缆阻抗均匀性测量方法 频域法(1～4千兆赫)
SJ 1523-79 KN2型钮子开关
SJ 1565-80 计数管坪特性的测试方法
SJ 1568-80 计数管脉冲幅度的测试方法
SJ 1570-80 计数管最大计数率的测试方法
SJ 1574-80 计数管本底计数的测试方法
SJ 1579-80 显示用电子束管管壳的试验方法(暂行)
SJ 1581-80 石英谐振器名词术语
SJ 1582-80 铁氧体磁性材料牌号与零件型号命名方法
SJ 1662-80 固定玻璃真空电容器外形基本尺寸
SJ 1694-81 电子元器件温度冲击-两槽法技术要求等级和试验方法
SJ 1695-80 透射式电视摄像综合测试图
SJ 1702-80 透射式电视摄像区域测试图
SJ 1745-81 YL型音响圆形插头座
SJ 1810-81 硅普通变容二极管击穿电压的测试方法
SJ 1813-81 硅普通变容二极管电容变化指数(n值)的测试方法
SJ 1853-81 电子陶瓷材料原子吸收分光光度测定法总则
SJ 1857-81 电子陶瓷材料菱美矿、方解石、白云石中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ 1266-84 叉指型散热器
SJ 1310-78 电压调谐磁控管功率波动的测试方法
SJ 1312-78 电压调谐磁控管频率温度系数的测试方法
SJ 1315-78 电压调谐磁控管电压调谐非线性度的测试方法
SJ 1339-78 光电管暗电流的测试方法
SJ 1356-78 光电倍增管噪声的测试方法
SJ 1455-79 通用多束阴极射线示波器技术条件
SJ 1491-79 振荡和功率放大管静态特性参考点的测试方法
SJ 1492-79 振荡和功率放大管脉冲输出功率的测试方法
SJ 1494-79 振荡和功率放大管第三栅极控制能力的测试方法
SJ 1524-79 KN4型钮子开关
SJ 1562-80 摄像管测试方法
SJ 1593-80 袖珍式和台式数字电子计算器总技术条件
SJ 1630-80 CCW5型管形微调瓷介电容器
SJ 1660-80 铜丝密封圈型式及尺寸系列
SJ 1664-80 固定陶瓷真空电容器外形基本尺寸
SJ 1729-81 WH19型推拉开关合成碳膜电位器
SJ 1765-80 扬声器用Y25、Y30永磁铁氧体尺寸系列(暂行)
SJ 1798-81 印制板可焊性测试方法
SJ 1815-81 硅普通变容二极管电容温度系数的测试方法
SJ 1851-81 晶体振荡器测试方法
SJ 1854-81 电子陶瓷粘土中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ 1865-81 KND2型波动开关
SJ 1949-81 场效应半导体管测试方法总则
SJ 1953-81 场效应半导体管栅源截止电压的测试方法
SJ 1962-81 场效应半导体管等效输入噪声电压(峰峰值)的测试方法
SJ 1963-81 场效应半导体管低频噪声系数的测试方法
SJ 1967-81 场效应半导体管漏源通态电阻和关态电阻的测试方法
SJ 1973-81 场效应半导体对管跨导比的测试方法
SJ/Z 2022-82 单位缺陷数图(u图)
SJ 1462-84 高频信号发生器测试方法
SJ 1510-79 CA70型无极性固体电解质烧结钽电容器
SJ 1556-80 MF53型半密封热敏电阻器
SJ 1567-80 计数管照射量率特性的测试方法
SJ 1691-80 3DD207型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1855-81 电子陶瓷材料长石中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ 1859-81 电子陶瓷材料石英中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ 1956-81 双栅场效应半导体管第二栅源截止电压的测试方法
SJ 1965-81 场效应半导体管高频噪声系数的测试方法
SJ/Z 2015-82 管理图总则
SJ/Z 2017-82 平均值-极差图(X-R图)
SJ 2076-82 电子测量仪器温度试验
SJ 2077-82 电子测量仪器湿度试验
SJ 2160-82 钡蒸散型吸气剂填料或膜中钡量的测定
SJ 2174-82 一般电子产品运输包装基本试验方法 翻滚
SJ 2213-82 半导体光敏管、光耦合器总技术条件
SJ 2243.1-82 反射式电视摄像综合测试图
SJ 2243.4-82 反射式电视摄像水平清晰度测试图
SJ 2243.6-82 反射式电视摄像棋盘格测试图
SJ 2243.8-82 反射式电视摄像重合测试图 A型
SJ 2243.11-82 反射式电视摄像区域测试图
SJ 2298-83 印制电路插头座总技术条件
SJ 2308.1-83 MYH1型灭弧用氧化锌压敏电阻器
SJ 2442-84 硅单晶片电阻率的直排四探针测试方法
SJ 2444-84 硅单晶中间隙氧含量的红外吸收测试方法
SJ 2473-84 黑白显像管总技术条件
SJ 2540.3-84 刚玉粉中三氧化二铁、氧化钙、氧化镁、氧化钠、氧化钾的原子吸收分光光度测定法
SJ 2581-85 直接辐射式扬声器尺寸
SJ 2742-87 电子设备用固定电阻网络 第一部分：总规范
SJ 2745-87 双列直插式开关总规范
SJ 1572-80 计数管γ能量响应特性的测试方法
SJ 1578-80 显示用电子束管管壳宏观质量要求(暂行)
SJ 1808-81 硅普通变容二极管测试方法总则
SJ 1849-81 电子设备用音频变压器扼流圈电性能试验方法
SJ 1954-81 场效应半导体管栅源击穿电压的测试方法
SJ 1959-81 场效应半导体管输入电容的测试方法
SJ 2119-82 脊形波导法兰盘总技术条件
SJ 2122-82 双脊波导法兰盘(带宽比为2.4∶1)
SJ 2146-82 硅稳流三极管测试方法 总则
SJ 2150-82 硅稳流三极管击穿电压的测试方法
SJ 2159-82 钡蒸散型吸气剂”吸气特性“测试方法
SJ 2164-82 钡蒸散型吸气剂“压粉牢固度”检测方法
SJ 2234-82 厚膜集成电路用陶瓷基片
SJ 2236-82 CC1型瓷介电容器
SJ 2302-83 CT(Z)型矩形插头座
SJ 2307.1-83 MYL1型防雷用氧化锌压敏电阻器
SJ 2319-83 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
SJ 2388-83 半导体管特性图示仪通用技术条件
SJ 2403-83 瓷介电容器产品标准 CC41型独石瓷介电容器
SJ 2421-83 电子元器件用镀锡铜包钢线
SJ 2540.8-84 刚玉粉中碳和硫的测定法
SJ 2540.9-84 刚玉粉灼烧失重的测定
SJ 2546-84 增量调制终端设备话路性能测量方法
SJ 2547-84 CC52型圆片穿心瓷介电容器
SJ 2604-85 单级谐波齿轮减速器
SJ 2654-86 设计文件的更改 设计文件更改通知单的格式和编制方法
SJ 2707-86 CY251型印制电路插头座
SJ 2714-86 雷达用小功率脉冲变压器总技术条件
SJ 2761-87 彩色电视机用FG314050￣51型、FG114050-51、FG344050-51半导体发光二极管
SJ 2812-87 长途人工电话交换设备技术要求
SJ 1629-80 微调瓷介电容器总技术条件
SJ 1687-80 3DD203型NPN硅低频大功率三极管
SJ 1801-81 吸气剂名词术语
SJ 1812-81 硅普通变容二极管优值(QV值)的测试方法
SJ 1950-81 场效应半导体管栅极截止电流的测试方法
SJ 1968-81 场效应半导体对管栅源电压差的测试方法
SJ 2071-82 铁氧体I、王、帽型磁芯总技术条件
SJ 2075-82 电子测量仪器环境试验总纲
SJ/Z 2083-82 大功率发射管的使用和维护
SJ 2084-82 单圈旋转式非线绕电位器外形和安装尺寸
SJ 2158-82 钡蒸散型吸气剂“含气量“测试方法
SJ 2161-82 掺氮吸气剂”释氮-吸气动态曲线“测试方法
SJ 2167-82 电子设备机柜通用技术条件
SJ 2239-82 CT4型瓷介电容器
SJ 2248-82 半导体发光器件二、三类总技术条件
SJ 2252-82 阴极碳酸盐
SJ 2306-83 固定电感器磁芯总技术条件
SJ 2308-83 灭弧型氧化锌压敏电阻器总技术条件
SJ 2336-83 载波通信设备型号命名方法
SJ 2347-83 微型数字电子计算机通用技术条件
SJ 2389-83 半导体管特性图示仪测试方法
SJ 2424-83 半导体器件键合线-铝硅合金丝
SJ 2530.1-84 塑料注射模零件 模板
SJ 2540.2-84 刚玉粉中三氧化硅、三氧化二铁、氧化钙、氧化镁、氧化钠、二氧化钛的发射光谱测定法
SJ 2540.5-84 刚玉粉中二氧化硅的比色测定法
SJ 2545-84 预加重总和增量调制终端设备技术要求
SJ/Z 2583-85 软件产品设计文件的组成和编制
SJ 2598-85 交流电动机用电容器总规范
SJ 2711-86 27～470MHz调频(或调相)民用小型无线电话机电性能测量方法
SJ 2769-87 短波单边带通信设备检验规则
SJ 1701-80 透射式电视摄像对数灰度测试图
SJ 1811-81 硅普通变容二极管电容的测试方法
SJ/Z 2018-82 中位值-极差图(X-R图)
SJ 2118-82 双脊波导管(带宽比为3.6∶1)
SJ 2162-82 掺氮吸气剂“钡膜分布”测定方法
SJ 2163-82 钡蒸散型吸气剂”装置重量“检测方法
SJ 2207-82 预调线绕电位器总技术条件
SJ 2243.7-82 反射式电视摄像调制度测试图
SJ 2251-82 阴极碳酸盐牌号命名方法
SJ 2461-84 黑白电视接收机用偏转线圈总技术条件
SJ 2470-84 镉镍圆柱密封碱性蓄电池
SJ 2530.31-84 塑料注射模零件 支柱
SJ 2531-84 塑料注射模零件技术条件
SJ 2548-84 CT52型圆片穿心瓷介电容器
SJ 2733-86 CYM1型薄膜介质预调可变电容器
SJ 2875-88 彩色电视接收机用偏转磁芯的尺寸
SJ 3276-90 插头电源线的安全要求
SJ/Z 9004.1-87 着火危险试验 第一部分：评定电气产品着火危险的要求和试验规范的编制导则 一般导则
SJ/Z 9004.3-87 着火危险试验 第2部分：试验方法 热丝试验和导则
SJ/Z 9014.1-87 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二极管
SJ/Z 9073.3-87 电气继电器 第十五部分：电气继电器触点的寿命试验-试验设备的特性规范
SJ/Z 9091-87 地理位置的纬度、经度及高度的标准表示法
SJ 1740-86 盒式磁带录音机用稳速永磁直流电动机
SJ 1957-81 场效应半导体管栅源阀电压的测试方法
SJ 2155-82 吸气剂分类及型号命名方法
SJ 2169-82 印制板的验收、包装、运输和保管
SJ 2243.10-82 反射式电视摄像余像测试图
SJ 2255-82 阴极碳酸盐分析方法
SJ 2258-82 电子测量仪器电源电压与频率度试验
SJ 2529-84 塑料注射模组合技术条件
SJ 2530.3-84 塑料注射模零件 顶杆固定板、垫板
SJ 2540.1-84 刚玉粉分析方法通则
SJ 2563-84 射频连接器名词术语
SJ/Z 2574-85 涂料涂覆典型工艺条件
SJ 2773.3-87 卫星电视接收设备测量方法 室外单元测量
SJ 2886-88 电子设备用固定电感器空白详细规范 评定水平A
SJ 2892-88 电子设备用电位器 第三部分：空白详细规范 旋转式精密电位器 评定水平E
SJ 2913-88 光纤光缆连接器总规范
SJ 3153-88 TJC4型彩色电视广播接收机用条形连接器
SJ/Z 9011.4-87 光敏器件的测试 第4部分：光电倍增管的测试方法
SJ/Z 9021.2-87 半导体器件的机械标准化 第2部分：尺寸
SJ/Z 9023-87 纤维光学分路器 第一部分：总规范
SJ/Z 9095.6-87 移动业务无线设备的测量方法 第六部分：选呼设备 单音信令制通用的音频频率
SJ/Z 9097.3-87 频率范围30MHz至1GHz的声音和电视广播接收天线 第三部分：机械性能振动试验和环境试验测试方法
SJ/Z 9104-87 数据通信-25插针DTE/DCE接口连接器及插针分配
SJ 1744-81 Q型小圆形插头座
SJ 1796-81 印制板金属镀层针孔测试方法-电图象法
SJ 1814-81 硅普通变容二极管中心电压的测试方法
SJ 1856-81 电子陶瓷材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ 1955-81 场效应半导体管漏源击穿电压的测试方法
SJ 1972-81 场效应半导体对管栅源截止电压比的测试方法
SJ/Z 2020-82 不合格品率图(P图)
SJ 2078-82 电子测量仪器振动试验
SJ 2134-82 2DH1～13型硅稳流二极管
SJ 2157-82 钡蒸散型吸气剂“得钡量”测试方法
SJ 2331-83 射频连接器电压驻波比测试方法
SJ 2400-83 瓷介电容器产品标准 CC81型高压瓷介电容器
SJ 2408-83 扩声系统设备互连用圆形连接器
SJ 2416-83 电真空玻璃直流击穿强度的测试方法
SJ 2419-83 电真空玻璃抗冲击强度的测试方法
SJ 2540.7-84 刚玉粉中氯根的目视比浊测定法
SJ 2573-85 涂料涂覆通用技术条件
SJ 2575-85 薄膜介质C类预调可变电容器总技术条件
SJ 2606-85 调谐变容二极管空白详细规范
SJ 2766-87 短波单边带通信设备通用技术条件
SJ 2767-87 短波单边带通信设备环境要求和试验方法
SJ 2768-87 短波单边带通信设备可靠性试验的一般要求
SJ 2773.1-87 卫星电视接收设备测量方法 系统测量
SJ 2786-87 电子设备用电位器 第一部分 总规范
SJ 2790-87 电子设备用电位器 第五部分：空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平E
SJ 2885-88 电子设备用固定电感器总规范
SJ 3159-88 GZS8-6-1型彩色显像管插座
SJ 3194-89 硅片显影设备通用技术条件
SJ 1816-81 硅普通变容二极管正向微分电阻的测试方法
SJ 1817-81 硅普通变容二极管串联电阻的测试方法
SJ 1891-81 一般电子工业产品的运输包装平行六面体包装箱底部尺寸
SJ 1969-81 场效应半导体对管栅源电压差温度漂移的测试方法
SJ 1970-81 场效应半导体对管跨导温度漂移的测试方法
SJ/Z 2016-82 平均值-标准偏差图(X-S图)
SJ/Z 2019-82 单值-移动极差图(X-RS图)
SJ/Z 2023-82 缺陷数图(C图)
SJ 2090-82 软磁铁氧体功耗及振幅磁导率测试方法
SJ 2114-82 单脊和双脊波导管总技术条件
SJ 2120-82 单脊波导法兰盘(带宽比为2.4∶1)
SJ 2128-82 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南
SJ 2172-82 一般电子产品运输包装基本试验方法 跌落
SJ 2243.3-82 反射式电视摄像机线性测试图 B型
SJ 2243.5-82 反射式电视摄像中频特性测试图
SJ 2243.9-82 反射式电视摄像重合测试图 B型
SJ 2299-83 CH1型印制电路插头座
SJ 2300-83 CY3型绕接印制电路插座
SJ 2320-83 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
SJ 2335-83 专用电话设备型号命名方法
SJ 2417-83 电真空玻璃密度的测试方法
SJ 2446-84 非本征半导体单晶霍尔迁移率的测试方法
SJ 2460-84 黑白电视接收机用回扫变压器总技术条件
SJ 2474-84 光纤光缆连接器插入式损耗测量方法
SJ 2484-84 广播收音机、广播电视接收机、声频功率放大器、磁带录音机等电子设备的安全要求及试验方法
SJ 2537-84 电真空器件用刚玉粉
SJ 2564-84 型材散热器
SJ 2568-85 声表面波滤波器型号命名方法
SJ 2578-85 纸盆扬声器通用技术条件
SJ 2579-85 纸盆扬声器检验规则
SJ 2054-82 传声器的测量方法
SJ 2115-82 单脊波导管(带宽比为2.4∶1)
SJ 2135-82 2DH14～15型硅稳流二极管
SJ 2269-83 微波频率应用的旋磁材料性能测试方法
SJ 2443-84 硅单晶寿命的直流光电导衰退测试方法
SJ 2450-84 纯金中杂质元素的发射光谱分析方法
SJ 2530.4-84 塑料注射模零件 带台导柱
SJ 2772-87 卫星电视接收设备通用技术条件
SJ 2773.4-87 卫星电视接收设备测量方法 室内单元测量
SJ 2788-87 电子设备用电位器 第二部分：空白详细规范 预调电位器 评定水平E
SJ 2793-87 广播收音机、广播电视接收机、声频功率放大器，磁带录音机用变压器安全标准
SJ 2900-88 电子设备用电位器 第四部分：空白详细规范 单圈旋转功率型电位器 评定水平F
SJ/Z 9026.1-87 识别卡-记录技术 第一部分：凸印
SJ/Z 9095.8-87 移动业务无线设备的测量方法 第八部分：天线的测量方法
SJ/Z 9097.4-87 频率范围30MHz至1GHz的声音和电视广播接收天线 第四部分：天线性能规范的编制导则 详细规范表格
SJ/Z 9103-87 单边带电力线载波机输入输出特性指标的推荐值
SJ/Z 9116-87 12.65mm磁带VHS方式螺旋扫描盒式录像系统
SJ/T 10345.2-93 寿命试验用表简单线性无偏估计用表(极值分布)
SJ 2116-82 单脊波导管(带宽比为3.6∶1)
SJ 2121-82 单脊波导法兰盘(带宽比为3.6∶1)
SJ 2212-86 JRX-30F型通用电磁继电器
SJ 2227-82 恒定失效率假设的有效性检验方法
SJ 2243.12-82 反射式电视摄像对数灰度测试图
SJ 2297-83 矩形插头座总技术条件
SJ 2301-83 ST(Z)型电源插头座
SJ 2464-84 广播收音机、电视机、磁带录音机、声频功率放大器(扩音机)的环境要求及试验方法
SJ 2530.2-84 塑料注射模零件 垫块
SJ 2538-84 比重天平法刚玉粉粒度分布的测定
SJ 2607-85 微波检波 混频二极管空白详细规范
SJ 2780-87 压电陶瓷蜂鸣片总技术条件
SJ 2787-87 电子设备用电位器 第二部分：分规范 预调电位器
SJ 2809.2-87 收、录音机质量验收规则 周期试验规则
SJ 3277-90 小型熔断器用管状熔断体
SJ/Z 9015.1-87 半导体器件 集成电路 第1部分：总则
SJ/Z 9016-87 半导体器件 机械和气候试验方法
SJ/Z 9026.2-87 识别卡-记录技术 第二部分：磁条
SJ/Z 9072.3-87 变压器和电感器磁芯制造厂产品目录中有关铁氧体材料的资料
SJ/Z 9073.1-87 有或无电气继电器
SJ/Z 9121-87 光反射式电视唱片系统 50场625行(PAL)制激光电视
SJ/Z 9142.2-87 高保真音频设备和系统最低性能要求 第2部分：调频射频调谐器
SJ 2166-82 电子设备可靠性试验的一般要求
SJ 2175-82 一般电子产品运输包装基本试验方法 淋雨
SJ 2238-82 CC4型瓷介电容器
SJ 2304-83 TX3型电源插头座
SJ 2310-83 印制线路板尺寸检验方法
SJ 2313-83 印制线路板外形尺寸系列
SJ 2322-83 CKTB400/7.5/40型可变陶瓷真空电容器
SJ 2404-83 瓷介电容器产品标准 CT41型独石瓷介电容器
SJ 2457-84 带状电缆连接器总技术条件
SJ 2528-84 塑料注射模组合
SJ 2536-84 电真空器件用刚玉粉牌号命名方法
SJ 2540.4-84 刚玉粉中三氧化二铝含量的络合滴定-氟化物释放测定法
SJ 2540.6-84 刚玉粉中二氧化钛的比色测定法
SJ 2789-87 电子设备用电位器 第五部分：分规范 单圈旋转低功率电位器
SJ 2809.1-87 收、录音机质量验收规则 交收试验规则
SJ 2813-87 长途人工电话交换设备测试方法
SJ 3154-88 TJC5型彩色电视广播接收机用条形连接器
SJ 3217-89 电子设备用电位器 第五部分：空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平E
SJ 3270-90 隔离变压器的安全要求
SJ/Z 9011.2-87 光敏器件的测试 第2部分：光电管的测试方法
SJ/Z 9014.2-87 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件
SJ/Z 9022-87 电阻器和电容器优先数系
SJ/Z 9026.3-87 识别卡-记录技术 第三部分：ID-1卡上凸印字符的定位
SJ/T 10345.3-93 寿命试验用表最好线性无偏估计用表(正态分布)
SJ/T 10629.2-95 计算机辅助设计设计文件管理制度 设计文件的格式
SJ/T 10629.6-95 计算机辅助设计设计文件管理制度 设计文件的更改
SJ 2527-84 塑料注射模组合编号规则
SJ 2576-85 锗单晶
SJ 2580-85 纸盆扬声器电声基本参数
SJ 2677-86 电子元器件详细规范 固定精密电阻器 RJ74型精密金属膜固定电阻器 评定水平E
SJ 3151-88 TJC2型彩色电视广播接收机用条形连接器
SJ 3158-88 插入式电子元器件用插座及其附件总规范
SJ/Z 9014.4-87 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管
SJ/Z 9023.2-87 纤维光学开关 第1部分：总规范
SJ/Z 9025-87 识别卡-物理特性
SJ/Z 9027-87 识别卡-发行者识别符的编号系统和登记规程
SJ/Z 9072.4-87 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯
SJ/Z 9073.4-87 电气继电器 第十八部分：有或无通用继电器的尺寸
SJ/Z 9100-87 电力线载波系统结合设备
SJ/Z 9117-87 19mm磁带U型螺旋扫描盒式录像系统
SJ/Z 9118.1-87 磁带录放音系统 第1部分：一般条件与要求
SJ/Z 9165-87 镉镍方形密封碱性蓄电池
SJ/T 10249-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB555型时基电路详细规范
SJ/T 10629.1-95 计算机辅助设计设计文件管理制度 基本要求
SJ 2676-86 电子元器件详细规范 固定精密电阻器 RJ73型精密金属膜固定电阻器 评定水平E
SJ 2678-86 电子元器件详细规范 固定精密电阻器 RJ75型精密金属膜固定电阻器 评定水平E
SJ 2734-86 CYM2型薄膜介质预调可变电容器
SJ 2770-87 短波单边带通信设备外部接口
SJ 2773.2-87 卫星电视接收设备测量方法 天线测量
SJ 3165-88 GZS12-4-2型彩色显像管插座
SJ 3193-89 硅片涂胶设备通用技术条件
SJ/Z 9015.2-87 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路
SJ/Z 9026.5-87 识别卡-记录技术 第五部分：读-写磁道-3道的定位
SJ/Z 9072.3-87 有或无电气继电器
SJ/Z 9073.2-87 电气继电器 第五部分：电气继电器的绝缘试验
SJ/Z 9095.7-87 移动业务无线设备的测量方法 第七部分：选呼设备 全模拟系统音频段测量
SJ/Z 9113-87 C型螺旋扫描磁带录像机
SJ/Z 9141.5-87 视听、视频和电视设备与系统 第5部分：控制、同步和地址码 第2章：静止图象双放映机控制系统操作规程
SJ/T 10774-96 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E(可供认证用)
SJ 2817-87 膜集成电路和混合膜集成电路外形尺寸
SJ 2891-88 电子设备用电位器 第三部分：分规范 旋转式精密电位器
SJ 2898-88 电子设备用电位器 第四部分：分规范 单圈旋转功率型电位器
SJ 2928-88 阻燃插头电源线
SJ 3152-88 TJC3型彩色电视广播接收机用条形连接器
SJ 3271-90 隔离电容器的安全要求
SJ/Z 9004.4-87 着火危险试验 第2部分：试验方法 针焰试验
SJ 2899-88 电子设备用电位器 第四部分：空白详细规范 单圈旋转功率型电位器 评定水平E
SJ 3150-88 TJC1型彩色电视广播接收机用条形连接器
SJ 3161-88 GZS10-2-1型彩色显像管插座
SJ 3168-88 CS2、CK2型二芯插塞插口
SJ 3257-89 低温噪声源通用技术条件
SJ/Z 9028-87 识别卡-金融交易卡
SJ/Z 9093-87 信息处理-信息交换用数据描述文卷规范
SJ/Z 9097.2-87 频率范围30MHz至1GHz的声音和电视广播接收天线 第二部分：电性能参数的测量方法
SJ/Z 9101-87 线路阻波器
SJ/Z 9118.3-87 磁带录放音系统 第3部分：磁带录放音设备特性的测量方法
SJ/Z 9120-87 50场625行制磁带录像机与电视接收机之间的互联
SJ/Z 9141.3-87 视听、视频和电视设备与系统 第4部分：系统中设备互连的优选配接值
SJ/Z 9166-87 镉镍方形(开口)碱性蓄电池
SJ/T 10345.5-93 寿命试验用表г(1＋1/m)数值表
SJ 3149-88 TJC型彩色电视广播接收机用条形连接器总规范
SJ/Z 9095.2-87 移动业务无线设备的测量方法 第二部分：A3E或F3E发射的发射机
SJ/Z 9096.5-87 无线电发射机的测量方法 第五部分：黑白及彩色电视发射机和差转机的测量
SJ/Z 9163-87 镉镍圆柱形密封碱性蓄电池
SJ/T 10798-96 电子元器件详细规范 MF11型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平E(可供认证用)
SJ/Z 9004.2-87 着火危险试验 第1部分：评定电器产品着火危险的要求和试验规范的编制导则 电子元器件用导则
SJ/Z 9095.3-87 移动业务无线设备的测量方法 第三部分：A3E或F3E发射的接收机
SJ/Z 9097.1-87 频率范围30MHz至1GHz的声音和电视广播接收天线 第一部分：电和机械特性
SJ/T 10345.1-93 寿命试验用表最好线性无偏估计用表(极值分布)
SJ/T 10345.4-93 寿命试验用表简单线性无偏估计用表(正态分布)
SJ/T 10471-94 声音和电视信号的电缆分配系统接收机变换器技术条件
SJ/Z 9142.3-87 高保真音频设备和系统最低性能要求 第3部分：唱机与唱头
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