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电子行业标准(5):电子元器件详细规范、彩色显像管插座
2007/1/31 16:52:55    中华人民共和国信息产业部
SJ/T 11155-98 电子元器件详细规范  彩色电视接收机用PV型系列偏转磁芯  评定水平A
SJ/T 11150-1997 广播电视发射设备安全要求 
SJ/T 11148-97 VCD视盘机测试盘
SJ/T 11146-96 视听、视频和电视设备与系统磁带/幻灯片同步操作规程
SJ/T 11145-96 空调器红外遥控系统的技术要求和试验方法
SJ/T 11144-97 电子产品分类与代码
SJ/T 11142-97 非广播摄录机测量方法
SJ/T 11140-97 铝电解电容器用电极箔
SJ/T 11139-97 电子设备用压电陶瓷滤波器详细规范  LT455W型压电陶瓷滤波器  评定水平E
SJ/T 11138.1-97 SYWV-75-5型电缆分配系统用物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆
SJ/T 11119-97 12.65mm(0.5in)L型螺旋扫描盒式磁带录像系统
SJ/T 11104-96 金属覆盖层  工程用金和金合金电镀层
SJ/T 11089-96 半导体分立器件文字符号
SJ/T 11086-96 FD08、FD12和FD15型间隙放电器技术条件
SJ/T 11138.2-97 SYWV-75-7、SYWY-75-7型电缆分配系统用物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆
SJ/T 11138.3-97 SYWV-75-9、SYWY-75-9、SYWLY-75-9型电缆分配系统用物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆
SJ/T 11137-97 寻呼机用永磁式直流电动机
SJ/T 11136-97 电子陶瓷二氧化锆材料
SJ/T 11135-97 TJC201型条形连接器规范
SJ/T 11134-97 DCB1型间距为1.25mm柔软带状电缆连接器详细规范
SJ/T 11138.4-97 SYWLY-75-12型电缆分配系统用物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆
SJ/T 11132-97 微波炉用电源变压器
SJ/T 11131-97 蒸发镀膜设备基本参数系列
SJ/T 11130-97 编织设备通用规范
SJ/T 11129-97 滚剪设备通用规范
SJ/T 11128-97 微盒式磁带录音机运带机构总技术条件
SJ/T 11127-97 光伏(PV)发电系统过电保护-导则
SJ/T 11126-97 电子元件用酚醛系包封材料
SJ/T 11125-97 电子元器件用环氧系灌封材料
SJ/T 11124-97 电子元器件用环氧系粉末包封材料
SJ/T 11122-97 电视节目自动播出系统的技术要求及测试方法
SJ/T 11121-97 应用电视  视频控制设备通用技术条件
SJ/T 11118-97 8GHz数字微波通信设备通用技术条件
SJ/T 11098-96 船用导航雷达波导馈电系统驻波系数测试方法
SJ/T 11091-96 电子元器件用镀锡圆引线通用技术条件
SJ/T 11120-97 电视和声音信号的电缆分配系统  设备与部件调频立体声和单声道调制器通用规范
SJ/T 11116-97 光纤预制棒总规范
SJ/T 11115-97 光学标记阅读机通用规范
SJ/T 11080-96 阴极射线管参考线量规尺寸
SJ/T 11081-96 阴极射线管外形图的绘制
SJ/T 11077-96 微波铁氧体规范起草导则
SJ/T 11113-1999 电子元器件详细规范  低功率非线绕固定电阻器  RJ13型金属膜固定电阻器  评定水平E
SJ/T 11110-96 金属覆盖层  工程用银和银合金电镀层
SJ/T 11111-96 金属覆盖层  银和银合金电镀层试验方法  第1部分:镀层厚度的测定
SJ/T 11112-96 金属覆盖层  银和银合金电镀层试验方法  第2部分:结合强度试验
SJ/T 11105-96 金属覆盖层  金和金合金电镀层的试验方法  第1部分:镀层厚度测定
SJ/T 11106-96 金属覆盖层  金和金合金电镀层的试验方法  第2部分:环境试验
SJ/T 11107-96 金属覆盖层  金和金合金电镀层的试验方法  第3部分:孔隙率的电图像试验
SJ/T 11108-96 金属覆盖层  金和金合金电镀层的试验方法  第4部分:金含量的测定
SJ/T 11109-96 金属覆盖层  金和金合金电镀层的试验方法  第5部分:结合强度试验
SJ/T 11082-96 电子管热丝或灯丝电流和电压的测试方法
SJ/T 11072-96 BNC型射频同轴连接器
SJ/T 11073-96 SMA型射频同轴连接器
SJ/T 11064-96 杜美丝
SJ/T 11063-96 钨加热子
SJ/T 11076-96 通信用电感器和变压器磁芯  第2部分:性能规范起草导则
SJ/T 11075-96 铁氧体原材料化学分析方法
SJ/T 11071-96 N型射频同轴连接器
SJ/T 11049-96 录音机用永磁直流电动机通用技术条件
SJ/T 11046-96 心脏起搏器用锂碘电池
SJ/T 11070-96 电子元器件详细规范  CH11型金属箔式聚酯-聚丙烯膜介质直流固定电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 11069-96 电子元器件详细规范  CS1型瓷介固定电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 11068-96 电子设备用固定电容器  第4部分:空白详细规范  固体电解质铝电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 11061-96 太阳电池电性能测试设备检验方法
SJ/T 11059-96 电子元器件详细规范  CS4220A型单栅N沟结型场效应晶体管(可供认证用)
SJ/T 11051-96 电视广播接收机用印制板规范
SJ/T 11001-96 电子元器件详细规范  CD291、CD292、CD293型固定铝电解电容器(可供认证用)
SJ/T 11050-96 多层印制板用粘结片预浸材料
SJ/T 11047-96 电子元器件详细规范  CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用)
SJ/T 11045-96 锂电池型号命名方法
SJ/T 11044-96 电子元器件详细规范  UYF10磁性氧化物磁芯  评定水平A(可供认证用)
SJ/T 11033-96 电子玻璃密度的测试方法  浮沉法
SJ/T 11036-96 电子玻璃平均线热膨胀系数的测试方法
SJ/T 11037-96 电子玻璃热稳定性测试方法
SJ/T 11038-96 电子玻璃软化点的测试方法
SJ/T 11039-96 电子玻璃退火点和应变点的测试方法
SJ/T 11040-96 电子玻璃高温粘度测试方法
SJ/T 11041-96 电子玻璃抗冲击强度测试方法
SJ/T 10912-96 SL16型视频同轴连接器
SJ/T 11042-96 电子玻璃体积电阻率为100MΩ·cm时的温度(Tk-100)的测试方法
SJ/T 11034-96 电子玻璃直流击穿强度测试方法
SJ/T 11035-96 电子玻璃抗水化学稳定性测试方法
SJ/T 11010-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD1124ACP伴音中频放大电路
SJ/T 11009-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD11215ACP图象中频放大电路
SJ/T 11008-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD11235CP行、场扫描电路
SJ/T 11004-96 半导体电视集成电路图象通道电路测试方法的基本原理
SJ/T 11005-96 半导体电视集成电路伴音通道电路测试方法的基本原理
SJ/T 11006-96 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
SJ/T 11007-96 半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理
SJ/T 11003-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CB14433型3(1/2)位A/D转换器(可供认证用)
SJ/T 11002-96 电子元器件详细规范  CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 11000-96 电子元器件详细规范  CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)
SJ/T 10999-96 电子元器件详细规范  CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)
SJ/T 10997-96 电子元器件详细规范  CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)
SJ/T 10992-96 电子元器件详细规范  2CW412~473型硅电压调整二极管(可供认证用)
SJ/T 10985-96 阴极射线管静电偏转极的命名方法
SJ/T 10983-96 DC2型带状电缆连接器详细规范
SJ/T 10996-96 电子元器件详细规范  CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)
SJ/T 10998-96 电子元器件详细规范  CBB13型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 10995-96 电子元器件详细规范  CT81型高压瓷介电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 10994-96 电子元器件详细规范  CC81型高压瓷介电容器  评定水平E(可供认证用)
SJ/T 10993-96 电子元器件详细规范  2CW380~411型硅电压调整二极管(可供认证用)
SJ/T 10991-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CW574CS电调谐器用稳压器
SJ/T 10990-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD5612CP图象色信号处理电路
SJ/T 10989-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD5622CP  PAL制色信号处理电路
SJ/T 10988-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD5132CP图象中频放大电路
SJ/T 10987-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD5435CP行、磁场扫描电路
SJ/T 10986-96 电子元器件详细规范  半导体电视集成电路CD5250CP伴音中频放大电路
SJ/T 10984-96 电子元器件详细规范  CA型固体电解固定钽电容器(可供认证用)
SJ/T 10982-96 电子元器件详细规范  2CC25、2CC30型硅频段转换变容二极管(可供认证用)
SJ/T 10981-96 电子元器件详细规范  2CC24、2CC29型硅调频变容二极管(可供认证用)
SJ/T 10937-96 彩色显像管用屏玻璃色品坐标测试方法
SJ/T 10936-96 彩色显像管玻壳残余应力测试方法
SJ/T 10945-96 电真空器件用刚玉粉牌号命名方法
SJ/T 10940-96 彩色显像管玻璃中氧化铬的分析
SJ/T 10923-96 电子工业用硅酸钾溶液中总碱度的测定方法
SJ/T 10924-96 电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法
SJ/T 10980-96 电子元器件详细规范  2CC23、2CC28型硅调谐变容二极管(可供认证用)
SJ/T 10979-96 电子元器件详细规范  2CC22、2CC27型硅调谐变容二极管(可供认证用)
SJ/T 10978-96 电子元器件详细规范  2CC21、2CC26型硅调谐变容二极管(可供认证用)
SJ/T 10977-96 电子元器件详细规范  2CK111、2CK112、2CK113型硅开关二极管(可供认证用)
SJ/T 10976-96 电子元器件详细规范  QL62型硅单相桥式整流器(可供认证用)
SJ/T 10975-96 电子元器件详细规范  3DG1815型硅NPN环境额定高频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10974-96 电子元器件详细规范  3DD325型硅NPN环境额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10973-96 电子元器件详细规范  3DD200型硅NPN低频放大管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 10969-96 电子元器件详细规范  3DG2636型硅NPN环境额定高频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10970-96 电子元器件详细规范  3DG3077型硅NPN环境额定高频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10966-96 电子元器件详细规范  3DD100C型硅NPN管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10967-96 电子元器件详细规范  3DD203型硅NPN管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10944-96 电真空器件用刚玉粉
SJ/T 10928-96 电子工业用硅酸钾溶液中镍的测定方法
SJ/T 10926-96 电子工业用硅酸钾溶液中铁的测定方法
SJ/T 10921-96 电子工业用硅酸钾溶液中碳酸钾的测定方法
SJ/T 10968-96 电子元器件详细规范  3DD205A型硅NPN管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10971-96 电子元器件详细规范  3DD204型硅NPN管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10972-96 电子元器件详细规范  3DD207型硅NPN管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10946-96 锡焊用液态焊剂(松香基)
SJ/T 10938-96 彩色显像管屏玻璃光透射比(τ546)的测试方法
SJ/T 10965-96 电子元器件详细规范  3CD546型硅PNP管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10964-96 电子元器件详细规范  3DD401型硅NPN管壳额定低频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10963-96 电子元器件详细规范  3DG2271型硅NPN环境额定高频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10962-96 电子元器件详细规范  3DA1514型硅NPN环境额定高频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10961-96 电子元器件详细规范  3CG778型硅PNP环境额定高频放大晶体管(可供认证用)
SJ/T 10960-96 电子元器件详细规范  3CG844型硅PNP环境额定高频放大晶体管
SJ/T 10959-96 电子元器件详细规范  3CT315型管壳额定雪崩三极晶体闸流管
SJ/T 10958-96 电子元器件详细规范  3CT320型管壳额定反向阻断三极晶体闸流管
SJ/T 10956-96 电子元器件详细规范  4CS122型硅高频双绝缘栅场效应晶体管
SJ/T 10957-96 电子元器件详细规范  4CS103型硅高频双绝缘栅场效应晶体管
SJ/T 10943-96 电真空器件用刚玉粉粒度分布的测定  密度天平法
SJ/T 10939-96 彩色显像管玻璃中氧化铈的分析
SJ/T 10942-96 彩色显像管玻璃中硫的分析
SJ/T 10922-96 电子工业用硅酸钾溶液分析方法通则
SJ/T 11055-96 电子元器件详细规范  4CS119型硅高频双绝缘栅场效应晶体管
SJ/T 11056-96 电子元器件详细规范  4CS1191型硅高频双绝缘栅场效应晶体管
SJ/T 11057-96 电子元器件详细规范  4CS142型硅高频双绝缘栅场效应晶体管
SJ/T 11058-96 电子元器件详细规范  4CS1421型硅高频双绝缘栅场效应晶体管
SJ/T 10955-96 电子元器件详细规范  3DG107型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 10947-96 电子元器件详细规范  FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管详细规范
SJ/T 11052-96 电子元器件详细规范  3DG162型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 11053-96 电子元器件详细规范  3DG182型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 11054-96 电子元器件详细规范  3DG140型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 11060-96 电子元器件详细规范  3DG3130型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 10954-96 电子元器件详细规范  2CK120型硅开关二极管(可供认证用)
SJ/T 10949-96 电子元器件详细规范  2CZ321型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
SJ/T 10950-96 电子元器件详细规范  2CZ322型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
SJ/T 10951-96 电子元器件详细规范  2CZ33型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
SJ/T 10952-96 电子元器件详细规范 2CZ323型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
SJ/T 10920-96 电视广播接收机运输包装件试验方法
SJ/T 10919-96 彩色电视广播接收机包装
SJ/T 10917-96 摄像管线圈组件技术要求
SJ/T 10953-96 电子元器件详细规范  2CZ34Q型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
SJ/T 10948-96 电子元器件详细规范  FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管详细规范
SJ/T 10941-96 彩色显像管玻璃中氯的分析
SJ/T 10935-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CF747型通用双运算放大器(可供认证用)
SJ/T 10934-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CW7805型三端正稳压器(可供认证用)
SJ/T 10927-96 电子工业用硅酸钾溶液中铜的测定方法
SJ/T 10933-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CC4518型CMOS双十进制同步计数器(可供认证用)
SJ/T 10931-96 电子元器件详细规范  半导体微型计算机集成电路Cμ6800型8位微处理器(可供认证用)
SJ/T 10925-96 电子工业用硅酸钾溶液浓度及模数的计算方法
SJ/T 10929-96 电子工业用硅酸钾溶液中重金属(Pb)的测定方法
SJ/T 10930-96 电子工业用硅酸钾溶液中氯化物的测定方法
SJ/T 10918-96 摄像管线圈组件测试方法
SJ/T 10916-96 彩色显像管包装
SJ/T 10915-96 气象图传真机(模拟)测试方法
SJ/T 10914-96 气象图传真机(模拟)技术要求
SJ/T 10913-96 手或动力驱动的压接工具总规范
SJ/T 10910-96 SL10型视频同轴连接器
SJ/T 10911-96 SL12型视频同轴连接器
SJ/T 10893-96 电子玻璃化学分析方法总则
SJ/T 10902-96 电子玻璃中二氧化硅的分析
SJ/T 10903-96 电子玻璃中三氧化二硼的分析
SJ/T 10904-96 电子玻璃中氟的分析 离子选择电极测定法
SJ/T 10905-96 电子玻璃中氧化铅的分析 萃取分离-EDTA络合物滴定法
SJ/T 10906-96 电子玻璃中氧化钡的分析 硫酸钡重量法
SJ/T 10907-96 电子玻璃中氧化铝的分析 EDTA络合滴定法
SJ/T 10908-96 电子玻璃中氧化铝和氧化锌的分析 EDTA络合滴定法
SJ/T 10909-96 电子玻璃中氧化钾、氧化钠和氧化锂的火焰光度测定法
SJ/T 10894-96 电子玻璃中氧化锂、氧化钠和氧化钾的原子吸收分析
SJ/T 10895-96 电子玻璃中氧化钙、氧化锶、氧化钡、氧化镁的原子吸收分析
SJ/T 10896-96 电子玻璃中氧化锌、氧化铅、氧化铝和氧化锑的原子吸收分析
SJ/T 10897-96 电子玻璃中氧化钴、氧化镍和二氧化锰的原子吸收分析
SJ/T 10898-96 电子玻璃中氧化铁和二氧化钛的分光光度分析
SJ/T 10899-96 电子玻璃中二氧化锆的分析
SJ/T 10900-96 电子玻璃中三氧化二砷的分析
SJ/T 10901-96 电子玻璃中二氧化锰的分析 高碘酸钾氧化法
SJ/T 10892-96 电子元器件详细规范  2CN31D型硅开关整流二极管(可供认证用)
SJ/T 10891-96 阴极射线管玻壳检验规范
SJ/T 10890-96 阴极射线管有效屏面缺陷规范
SJ/T 10889-96 CKTB400/7.5/60型可变陶瓷真空电容器
SJ/T 10872-2000 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E
SJ/T 10861-96 铬版光密度的测试方法
SJ/T 10887-96 电子元器件详细规范  3DD102B型低频放大管壳额定的双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 10886-96 电子元器件详细规范  3DD201型低频放大管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 10867-96 盘封管电性能测试方法  谐振腔无载品质因数Q的测试方法
SJ/T 10869-96 盘封管电性能测试方法  功率增益的测试方法
SJ/T 10774-2000 电子元器件详细规范  低功率非线绕固定电阻器  RT14型碳膜固定电阻器  评定水平E
SJ/T 10885-96 电子元器件详细规范  3DA150B、3DA150C型高频放大管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
SJ/T 10884-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CE10131型ECL双主从D触发器(可供认证用)
SJ/T 10883-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CDA7520型10位数/模转换器(可供认证用)
SJ/T 10882-96 半导体集成电路线性放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10879-96 半导体集成音响电路音频前置放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10880-96 半导体集成音响电路立体声解码器测试方法的基本原理
SJ/T 10881-96 半导体集成音响电路电平指示驱动器测试方法的基本原理
SJ/T 10878-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CW723型多端可调稳压器(可供认证用)
SJ/T 10877-96 电子元器件详细规范  半导体集成电路CF741型运算放大器(可供认证用)
SJ/T 10875-96 电子元器件详细规范  CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)
SJ/T 10864-96 盘封管电性能测试方法  总则
SJ/T 10857-96 铬版
SJ/T 10860-96 铬版铬膜表面反射率的测试方法
SJ/T 10876-96 电子元器件详细规范  CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)
SJ/T 10865-96 盘封管电性能测试方法  频率响应特性的测试方法
SJ/T 10866-96 盘封管电性能测试方法  频率位置的测试方法
SJ/T 10868-96 盘封管电性能测试方法  自中和频率的测试方法
SJ/T 10870-96 盘封管电性能测试方法  调幅调相转换系数的测试方法
SJ/T 10871-96 盘封管电性能测试方法  三音互调失真的测试方法
SJ/T 10859-96 铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法
SJ/T 10863-96 电子元器件详细规范  47SX101Y22-DC05型彩色显象管(可供认证用)
SJ/T 10862-96 助听器交货时质量检验的性能测量
SJ/T 10858-96 玻璃及铬版表面平整度的测试方法
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