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电子行业国家标准索引:电子元器件
2007/1/30 22:47:52    中华人民共和国信息产业部
GB/T 13063-1991 电流调整和电流基准二极管空白详细规范
GB/T 12562-1990 PIN二极管空白详细规范 (可供认证用)
GB/T 7577-1996 低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
GB/T 4586-1994 半导体器件  分立器件  第8部分:场效应晶体管
GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路  第7部分:双极型晶体管
GB/T 4589.1-1989 半导体器件  分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
GB/T 15137-1994 体效应二极管空白详细规范
GB/T 15177-1994 微波检波、混频二极管空白详细规范
GB/T 15178-1994 变容二极管空白详细规范
GB/T 15291-1994 半导体器件  第6部分  晶闸管
GB/T 15292-1994 晶闸管测试方法  逆导三极晶闸管
GB/T 15293-1994 晶闸管测试方法  可关断晶闸管
GB/T 13150-1991 100A以上环境或管壳额定双向三极晶闸管空白详细规范
GB/T 13151-1991 100A以上环境或管壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范
GB/T 13152-1991 5A/5A以上环境或管壳额定逆导三极晶闸管空白详细规范
GB/T 13153-1991 5A以上环境或管壳额定可关断晶闸管空白详细规范
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
GB/T 6218-1996 开关用双极型晶体管空白详细规范
GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法
GB/T 6571-1995 半导体器件  分立器件  第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
GB/T 13066-1991 单结晶体管空白详细规范
GB/T 1913.2-2002 印制板用漂白木浆纸
GB/T 4721-1992 印制电路用覆铜箔层压板通用规则
GB/T 4722-1992 印制电路用覆铜箔层压板试验方法
GB/T 4723-1992 印制电路用覆铜箔酚醛纸层压板
GB/T 4724-1992 印制电路用覆铜箔环氧纸层压板
GB/T 4725-1992 印制电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板
GB/T 9315-1988 印制电路板外形尺寸系列
GB/T 12629-1990 限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用)
GB/T 12630-1990 一般用途的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用)
GB/T 12631-1990 印制导线电阻测试方法
GB/T 13555-1992 印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜
GB/T 13556-1992 印制电路用挠性覆铜箔聚脂薄膜
GB/T 13557-1992 印制电路用挠性覆铜箔材料试验方法
GB/T 14708-1993 挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜
GB/T 14709-1993 挠性印制电路用涂胶聚酰亚胺薄膜
GB/T 2036-1994 印制电路术语
GB/T 5489-1985 印制板制图
GB/T 16261-1996 印制板总规范
GB/T 1360-1998 印制电路网格体系
GB/T 4588.12-2000 预制内层层压板规范(半制成多层印制板)
GB/T 18334-2001 有贯穿连接的挠性多层印制板规范
GB/T 18335-2001 有贯穿连接的刚挠多层印制板规范
GB/T 4677-2002 印制板测试方法
GB/T 4588.3-2002 印制板的设计和使用
GB/T 19247.1-2003 印制板组装  第1部分: 通用规范  采用表面安装和相关组装技术的电子和电气焊接组装的要求
GB/T 19247.2-2003 印制板组装  第2部分: 分规范  表面安装焊接组装的要求
GB/T 19247.3-2003 印制板组装 第3部分:分规范 通孔安装焊接组装的要求
GB/T 19247.4-2003 印制板组装 第4部分:分规范 引出端焊接 组装的要求
GB/T 19405.1-2003 表面安装技术 第1部分:表面安装元器件规范的标准方法
GB/T 19405.2-2003 表面安装技术 第2部分:表面安装元器件的运输和贮存条件-应用指南
GB/T 4588.1-1996 无金属化孔单双面印制板分规范
GB/T 4588.2-1996 有金属化孔单双面印制板分规范
GB/T 4588.4-1996 多层印制板  分规范
GB/T 11499-2001 半导体分立器件文字符号
GB/T 12560-1999 半导体器件  分立器件分规范
GB/T 6588-2000 半导体器件  分立器件  第3部分:信号(包括开关)和调整二极管  第1篇  信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
GB/T 6590-1998 半导体器件  分立器件  第6部分:闸流晶体管  第二篇  100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T 6217-1998 半导体器件  分立器件  第7部分:双极型晶体管  第一篇  高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T 7576-1998 半导体器件  分立器件  第7部分:双极型晶体管  第四篇  高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范
GB/T 6219-1998 半导体器件  分立器件  第8部分:场效应晶体管  第一篇  1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管  空白详细规范
GB/T 17573-1998 半导体器件  分立器件和集成电路  第1部分:总则
GB/T 6351-1998 半导体器件  分立器件  第2部分:整流二极管  第一篇  100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
GB/T 6352-1998 半导体器件  分立器件  第6部分:闸流晶体管  第一篇  100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T 4023-1997 半导体器件  分立器件和集成电路  第2部分:整流二极管
GB/T 15449-1995 管壳额定开关用场效应晶体管  空白详细规范
GB/T 15450-1995 硅双栅场效应晶体管  空白详细规范
GB/T 16894-1997 大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
GB/T 17007-1997 绝缘栅双极型晶体管测试方法
GB/T 17008-1997 绝缘栅双极型晶体管的词汇及文字符号
GB/T 14864-1993 实芯聚乙烯绝缘射频电缆
GB/T 14865-1993 SMB型射频同轴连接器
GB/T 15217-1994 同轴电缆屏蔽衰减测量方法(吸收钳法)
GB/T 15285-1994 漏泄同轴电缆分规范
GB/T 15396-1994 射频电缆和连接器用六角和正方形压模腔体、压头、标准规、外导体压接套和中心接触件压接导线筒的尺寸
GB/T 15866-1995 射频同轴电缆组件  第2-1部分:柔软同轴电缆组件分规范
GB/T 15867-1995 射频同轴电缆组件  第4部分:半硬同轴电缆组件分规范
GB/T 15886-1995 C型射频同轴连接器
GB/T 15887-1995 SMC型射频同轴连接器
GB/T 15888-1995 UHF型射频同轴连接器
GB/T 15889-1995 SSMA型射频同轴连接器
GB/T 15890-1995 SSMB型射频同轴连接器
GB/T 15891-1995 射频电缆  第四部分:超屏蔽电缆规范  第一篇:一般要求和试验方法
GB/T 16531-1996 射频同轴电缆组件  第3部分  半柔软同轴电缆组件分规范
GB/T 11322.1-1997 射频电缆  第0部分:详细规范设计指南  第一篇  同轴电缆
GB/T 17738.1-1999 射频同轴电缆组件  第1部分:总规范  一般要求和试验方法
GB/T 17737.1-2000 射频电缆  第1部分:总规范  总则、定义、要求和试验方法
GB/T 17737.2-2000 射频电缆  第2部分:聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半硬射频同轴电缆分规范
GB/T 11313.1-2000 射频连接器  第1-1部分:单或多系列空白详细规范
GB/T 11313.24-2001 射频连接器  第24部分:75Ω电缆分配系统用螺纹连接射频同轴连接器(F型)
GB/T 11313.33-2001 射频连接器  第33部分:BMA系列射频连接器分规范
GB/T 17737.3-2001 射频电缆  第3部分:局域网用同轴电缆分规范
GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验和测量程序  屏蔽效率
GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法
GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名
GB/T 3352-1994 人造石英晶体
GB/T 3353-1995 人造石英晶体使用指南
GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法
GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法
GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法
GB/T 6628-1996 人造石英晶体制材
GB/T 8553-1987 晶体盒总规范
GB/T 9532-1988 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法
GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法
GB/T 11114-1989 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法
GB/T 12273-1996 石英晶体元件  电子元器件质量评定体系规范  第1部分:总规范
GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器  总规范 (可供认证用)
GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法
GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范 (可供认证用)
GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范  低频压电陶瓷谐振器
GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范  低频压电陶瓷谐振器  评定水平 E(可供认证用)
GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范  高频压电陶瓷谐振器 (可供认证用)
GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范  高频压电陶瓷谐振器  评定水平 E(可供认证用)
GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件  空白详细规范  电阻焊石英晶体元件  评定水平 E
GB/T 15156-1994 压电陶瓷换能元件总规范
GB/T 16516-1996 石英晶体元件  电子元器件质量评定体系规范  第2部分:分规范  能力批准
GB/T 16517-1996 石英晶体元件  电子元器件质量评定体系规范  第3部分:分规范  鉴定批准
GB/T 17190-1997 电子设备用压电陶瓷滤波器  电子元器件质量评定体系规范  第1部分:总规范  鉴定批准
GB/T 12864-1997 电子设备用压电陶瓷滤波器  电子元器件质量评定体系规范  第2部分:分规范  鉴定批准
GB/T 12865-1997 电子设备用压电陶瓷滤波器  电子元器件质量评定体系规范  第2部分:分规范  鉴定批准  第一篇:空白详细规范  评定水平E
GB/T 15648-1995 辉光放电显示管测试方法
GB/T 787-74 电子管管基尺寸
GB/T 2097-80 彩色电视广播测试图
GB/T 3306-2001 小功率电子管电性能测试方法
GB/T 6255- 空间电荷控制电子管总规范(可供认证用)
GB/T 9042-88 EY501型功率行波管技术条件
GB/T 9043-88 通信设备过电压保护用气体放电管通用技术条件
GB/T 9584-88 电压调谐磁控管电性能测试方法
GB/T 9601-88 脉冲磁控管电性能测试方法
GB/T 9603-88 充气微波开关管电性能测试方法
GB/T 12852- 磁控管总规范(可供认证用)
GB/T 12853- 连续波磁控管空白详细规范(可供认证用)
GB/T 13065-91 过电压保护用气体放电管空白详细规范(可供认证用)
GB/T 13170.1-91 反射式电视测试图  综合测试图
GB/T 13170.2-91 反射式电视测试图  线形测试图  A型
GB/T 13170.3-91 反射式电视测试图  线形测试图  B型
GB/T 13170.4-91 反射式电视测试图  高频特性测试图
GB/T 13170.5-91 反射式电视测试图  中频特性测试图
GB/T 13170.6-91 反射式电视测试图  余像测试图
GB/T 13170.7-91 反射式电视测试图  棋盘格测试图
GB/T 13170.8-91 反射式电视测试图  辐射响应测试图
GB/T 13170.9-91 反射式电视测试图  重合测试图  A型
GB/T 13170.10-91 反射式电视测试图  重合测试图  B型
GB/T 13170.11-91 反射式电视测试图  圆域测试图
GB/T 13170.12-91 反射式电视测试图  辐射条测试图
GB/T 13170.13-91 反射式电视测试图  区域测试图
GB/T 13170.14-91 反射式电视测试图  灰度测试图  A型
GB/T 13170.15-91 反射式电视测试图  灰度测试图  B型
GB/T 18290.2-2000 无焊连接  第2部分:无焊压接连接  一般要求、试验方法和使用导则
GB/T 15286-1994 端接件总规范
GB/T 15158-1994 音响设备用连接器系列和品种
GB/T 15176-1994 插入式电子元器件用插座及其附件总规范
GB/T 16514-1996 电子设备用机电开关  第5部分:按钮开关分规范
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第1部分:总则
GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第3部分:载流容量试验
GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第4部分:动态应力试验
GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第6部分:气候试验和锡焊试验
GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第7部分:机械操作试验和密封性试验
GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验
GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第9部分:杂项试验
GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第11部分:气候试验
GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第12部分:锡焊试验  第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件  基本试验规程及测量方法  第15部分:接触件和引出端的机械试验  第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性
GB/T 17210-1998 电子设备用机电开关  第2部分:旋转开关分规范  第一篇  空白详细规范
GB/T 13419-1998 电子设备用机电开关  第6部分:微动开关分规范
GB/T 13420-1998 电子设备用机电开关  第6部分:微动开关分规范  第1篇:空白详细规范
GB/T 15157.2-1998 印制板用频率低于3MHz的连接器  第2部分:有质量评定的具有通用安装特征  基本网格2.54mm(0.1in)的印制板用两件式连接器详细规范
GB/T 17562.1-1998 频率低于3MHz的矩形连接器  第1部分  总规范  一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则
GB/T 18290.3-2000 无焊连接  第3部分:可接触无焊绝缘位移连接  一般要求、试验方法和使用导则
GB/T 18290.4-2000 无焊连接  第4部分:不可接触无焊绝缘位移连接  一般要求、试验方法和使用导则
GB/T 18290.5-2000 无焊连接  第5部分:无焊压入式连接  一般要求、试验方法和使用导则
GB/T 18501.2-2001 直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器  第2部分:有质量评定的圆形连接器分规范
GB/T 15157.7-2002 频率低于3MHz的印制板连接器  第7部分:有质量评定的具有通用插合特性的8位固定和自由连接器详细规范
GB/T 17562.8-2002 频率低于3MHz的矩形连接器  第8部分:具有4个信号接触件和电缆屏蔽用接地接触件的连接器详细规范
GB/T 18501.1-2001 有质量评定的直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器  第1部分:总规范
GB/T 2471-1995 电阻器和电容器优先数系
GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器  第二部分:分规范  低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用)
GB/T 5731-1985 电子设备用固定电阻器  第二部分:空白详细规范  低功率非线绕固定电阻器  评定水平E(可供认证用)
GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器  第四部分:分规范  功率型固定电阻器(可供认证用)
GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器  第四部分:空白详细规范  功率型固定电阻器  评定水平E (可供认证用)
GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器  第五部分:分规范  精密固定电阻器 (可供认证用)
GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器  第五部分:空白详细规范  精密固定电阻器  评定水平E (可供认证用)
GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法
GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法
GB/T 7338-1996 电子设备用固定电阻器  第6部分:分规范  各电阻器可单独测量的固定电阻网络
GB/T 7339-1987 电子设备用固定电阻器  第六部分:空白详细规范  阻值和功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻网络  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 7340-1987 电子设备用固定电阻器  第六部分:空白详细规范  阻值和功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻网络  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 9546-1995 电子设备用固定电阻器  第8部分:分规范  片式固定电阻器
GB/T 9547-1994 电子设备用固定电阻器  第八部分:空白详细规范  片式固定电阻器  评定水平E
GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器  第七部分:分规范  各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用)
GB/T 12277-1990 电子设备用固定电阻器  第七部分:空白详细规范  各电阻器不可单独测量的固定电阻网络  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 15654-1995 电子设备用膜固定电阻网络  第1部分:总规范
GB/T 15882-1995 电子设备用膜固定电阻网络  第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范
GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络  第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范  评定水平E
GB/T 15884-1995 电子设备用固定电阻器  第5部分:空白详细规范  精密固定电阻器  评定水平 F
GB/T 15885-1995 电子设备用固定电阻器  第4部分:空白详细规范  功率型固定电阻器  评定水平 F
GB/T 17034-1997 电子设备用固定电阻器  第2部分:空白详细规范  低功率非线绕固定电阻器  评定水平F
GB/T 17035-1997 电子设备用固定电阻器  第4部分:空白详细规范  带散热器的功率型固定电阻器  评定水平H
GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器  第一部分:总规范
GB/T 15299-1994 电子设备用电位器  第二部分:分规范  螺杆驱动和旋转预调电位器
GB/T 15300-1994 电子设备用电位器  第二部分:空白详细规范  螺杆驱动和旋转预调电位器  评定水平 E
GB/T 15880-1995 电子设备用电位器  第3部分:分规范  旋转式精密电位器
GB/T 15881-1995 电子设备用电位器  第3部分:空白详细规范  旋转式精密电位器  评定水平E
GB/T 16515-1996 电子设备用电位器  第5部分:分规范  单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器
GB/T 17025-1997 电子设备用电位器  第4部分:分规范  单圈旋转功率电位器
GB/T 17026-1997 电子设备用电位器  第4部分:空白详细规范  单圈旋转功率电位器  评定水平E
GB/T 17027-1997 电子设备用电位器  第4部分:空白详细规范  单圈旋转功率电位器  评定水平F
GB/T 17028-1997 电子设备用电位器  第5部分:空白详细规范  单圈旋转低功率电位器  评定水平E
GB/T 17029-1997 电子设备用电位器  第5部分:空白详细规范  单圈旋转低功率电位器  评定水平F
GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量
GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸
GB/T 5078-1985 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法
GB/T 2470-1995 电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法
GB/T 2691-1994 电阻器和电容器的标志代码
GB/T 3788-1995 真空电容器通用技术条件
GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则
GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法
GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范
GB/T 5966-1996 电子设备用固定电容器  第8部分:分规范  1类瓷介固定电容器
GB/T 5967-1996 电子设备用固定电容器  第8部分:空白详细规范  1类瓷介固定电容器  评定水平E
GB/T 5968-1996 电子设备用固定电容器  第9部分:分规范  2类瓷介固定电容器
GB/T 5969-1996 电子设备用固定电容器  第9部分:空白详细规范  2类瓷介电容器  评定水平 E
GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范
GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范
GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范
GB/T 6346-1986 电子设备用固定电容器  第11部分:分规范  金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 (可供认证用)
GB/T 6347-1986 电子设备用固定电容器  第11部分:空白详细规范  金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器  评定水平 E(可供认证用)
GB/T 7332-1996 电子设备用固定电容器  第2部分:分规范  金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器
GB/T 7333-1996 电子设备用固定电容器  第2部分:空白详细规范  金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质  直流固定电容器  评定水平E
GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器  第8部分 (1):分规范  1类高压瓷介电容器 (可供认证用)
GB/T 9321-1988 电子设备用固定电容器  第8部分(1):空白详细规范  1 类高压瓷介电容器  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器  第9部分 (1):分规范  2 类高压瓷介电容器 (可供认证用)
GB/T 9323-1988 电子设备用固定电容器  第9部分 (1):空白详细规范  2类高压瓷介电容器  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 9324-1996 电子设备用固定电容器  第10部分:分规范  多层片式瓷介电容器
GB/T 9325-1996 电子设备用固定电容器  第10部分:空白详细规范  多层片式瓷介电容器  评定水平E
GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器  分规范:1类高功率瓷介电容器(可供认证用)
GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器  空白详细规范:1 类高功率瓷介电容器  评定水平E(可供认证用)
GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器  第7部分:分规范  金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器
GB/T 10186-1988 电子设备用固定电容器  第7部分:空白详细规范  金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器  评定水平E(可供认证用)
GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器  第13部分:分规范  金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 (可供认证用)
GB/T 10189-1988 电子设备用固定电容器  第13部分:空白详细规范  金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器  评定水平E (可供认证用)
GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器  第16部分:分规范  金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器 (可供认证用)
GB/T 10191-1988 电子设备用固定电容器  第16部分:空白详细规范  金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器  评定水平E (可供认证用)
GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范
GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范
GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范
GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范
GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器  分规范:3 类瓷介电容器 (可供认证用)
GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器  空白详细规范  3类瓷介电容器  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范
GB/T 12794-1991 电子设备用固定电容器  第15部分:空白详细规范  非固体电解质箔电极钽电容器  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 12795-1991 电子设备用固定电容器  第15部分:空白详细规范  非固体电解质多孔阳极钽电容器  评定水平 E (可供认证用)
GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器  第6部分:分规范  金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)
GB/T 14005-1992 电子设备用固定电容器  第6部分:空白详细规范  金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器  评定水平 E(可供认证用)
GB/T 14121-1993 电子设备用固定电容器  第3 部分:分规范  片状钽固定电容器(可供认证用)
GB/T 14122-1993 电子设备用固定电容器  第3 部分:空白详细规范  片状钽固定电容器  评定水平 E(可供认证用)
GB/T 14579-1993 电子设备用固定电容器  第17部分:分规范  金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器
GB/T 14580-1993 电子设备用固定电容器  第17部分:空白详细规范  金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器  评定水平E
GB/T 15448-1995 电子设备用固定电容器  第19部分:分规范  金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器
GB/T 16467-1996 电子设备用固定电容器  第19部分:空白详细规范  金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质  直流片式固定电容器  评定水平E
GB/T 14472-1998 电子设备用固定电容器  第14部分:分规范  抑制电源电磁干扰用固定电容器
GB/T 14473-1998 电子设备用固定电容器  第14部分:空白详细规范  抑制电源电磁干扰用固定电容器  评定水平D
GB/T 17206-1998 电子设备用固定电容器  第18部分:分规范  固体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器
GB/T 17207-1998 电子设备用固定电容器  第18部分:空白详细规范  固体(MnO2)电解质片式铝固定电容器  评定水平E
GB/T 17208-1998 电子设备用固定电容器  第18部分:空白详细规范  非固体电解质片式铝固定电容器  评定水平E
GB/T 6261-1998 电子设备用固定电容器  第5部分:分规范  额定电压不超过3000伏的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求
GB/T 6262-1998 电子设备用固定电容器  第5部分:空白详细规范  额定电压不超过3000伏的直流云母介质固定电容器  评定水平E
GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器  第1部分:总规范
GB/T 5993-2003 电子设备用固定电容器 第4部分:分规范 固体和非固体电解质铝电容器
GB/T 5994-2003 电子设备用固定电容器 第4-1部分:空白详细规范 非固体电解质铝电容器 评定水平E
GB/T 7213-2003 电子设备用固定电容器 第15部分:分规范 非固体或固体电解质钽电容器
GB/T 7214-2003 电子设备用固定电容器 第15-3部分:空白详细规范 固体电解质和多孔阳极钽电容器 评定水平 E
GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范 (可供认证用)
GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范  评定水平E(可供认证用)
GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范 (可供认证用)
GB/T 10193-1997 电子设备用压敏电阻器  第1部分:总规范
GB/T 10194-1997 电子设备用压敏电阻器  第2部分:分规范  浪涌抑制型压敏电阻器
GB/T 10195.1-1997 电子设备用压敏电阻器  第2部分:空白详细规范  碳化硅浪涌抑制型压敏电阻器  评定水平E
GB/T 10195.2-1997 电子设备用压敏电阻器  第2部分:空白详细规范  氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器  评定水平E
GB/T 7153-2002 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器  第1部分:总规范
GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南
GB/T 11323-1989 电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验
GB/T 11449.1-1989 波导法兰盘  第一部分:一般要求
GB/T 11449.2-1989 波导法兰盘  第二部分:普通矩形波导法兰盘规范
GB/T 11449.3-1989 波导法兰盘  第三部分:扁矩形波导法兰盘规范
GB/T 11449.4-1989 波导法兰盘  第四部分:圆形波导法兰盘规范
GB/T 11449.5-1989 波导法兰盘  第六部分:中等扁矩形波导法兰盘规范
GB/T 11449.6-1989 波导法兰盘  第七部分:方形波导法兰盘规范
GB/T 11450.1-1989 空心金属波导  第一部分:一般要求和测量方法
GB/T 11450.2-1989 空心金属波导  第二部分:普通矩形波导有关规范
GB/T 11450.3-1989 空心金属波导  第三部分:扁矩形波导有关规范
GB/T 11450.4-1989 空心金属波导  第四部分:圆形波导有关规范
GB/T 11450.5-1989 空心金属波导  第六部分:中等扁矩形波导有关规范
GB/T 11450.6-1989 空心金属波导  第七部分:方形波导有关规范
GB/T 11451-1989 软波导组件性能
GB/T 12269-1990 射频电缆总规范
GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范
GB/T 13029.2-1991 船用同轴软电缆选择和敷设
GB/T 13415-1992 射频混频器总规范
GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范
GB/T 14313-1993 精密硬同轴线及其精密连接器总规范
GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语
GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验  总要求
GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验  试验周期设计导则
GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验    可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (指数分布) GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验  成功率的验证试验方案
GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验  恒定失效率假设的有效性检验
GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验     恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南
GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南
GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序
GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验   推荐的试验条件  室内便携设备  粗模拟
GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验   推荐的试验条件  固定使用在有气候防护场所设备  精模拟
GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南
GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术  失效模式和效应分析(FMEA)程序
GB/T 7827-1987 可靠性预计程序
GB/T 7828-1987 可靠性设计评审
GB/T 7829-1987 故障树分析程序
GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则  第一部分:维修性导言
GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则  第二部分:规范与合同中的维修性要求
GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则  第三部分:维修性大纲
GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则  第五部分:设计阶段的维修性研究
GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则  第六部分:维修性检验
GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则  第七部分:维修性数据的收集、分析与表示
GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲
GB/T 15647-1995 稳态可用性验证试验方法
GB/T 6992.1-1995 GB/T19000.4-1995 可信性管理  第1部分:可信性大纲管理指南 - 质量管理和质量保证标准  第4部分:可信性大纲管理指南
GB/T 6992.2-1997 可信性管理  第2部分:可信性大纲要素和工作项目
GB/T 9414.7-2000 设备维修性导则  第四部分:诊断测试
GB/T 9414.8-2001 设备维修性导则  第九部分:维修性评价的统计方法
GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法
GB/T 10232-1994 电气继电器  第7部分:有或无机电继电器测试程序
GB/T 14598.2-1993 电气继电器  有或无电气继电器
GB/T 14598.3-1993 电气继电器  第五部分:电气继电器的绝缘试验
GB/T 14598.4-1993 电气继电器  第十四部分:电气继电器触点的寿命试验  触点负载的优先值
GB/T 14598.5-1993 电气继电器  第十五部分:电气继电器触点的寿命试验  试验设备的特性规范
GB/T 14598.6-1993 电气继电器  第十八部分:有或无通用继电器的尺寸
GB/T 14598.11-1997 电气继电器  第19部分:分规范  有质量评定的有或无机电继电器
GB/T 14598.12-1998 电气继电器  第19部分:空白详细规范:有质量评定的有或无机电继电器  试验一览表1,2和3
GB/T 18908.1-2002 工业用时间继电器  第1部分:要求和试验
GB/T 14598.1-2002 电气继电器  第23部分:触点性能
GB/T 16608.1-2003 有质量评定的有或无基础机电继电器 第1部分:总规范
GB/T 6643-1986 通用硬同轴传输线及其法兰连接器总规范
GB/T 17563-1998 可程控测量设备标准数字接口的标准代码、格式、协议和公共命令
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