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| 产品名称：TO封装集成电路老化测试插座 |
| 产品品牌： |
| 产品型号： |
| 参考价格：￥0 |
| 浏览人数：740 |
| 发布日期：2009/7/27 16:13:09 |
| 联系卖方：扬州市广陵区鸿腾电器厂 |
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| 产品简介 |
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| 该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。 产品型号及规格； TO-4、6、8、10、12
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| 产品说明 |
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TO封装集成电路老化测试插座
该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。
产品型号及规格；
TO-4、6、8、10、12
主要技术指标；
环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg
磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次
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| 资料下载 |
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