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Chroma在SEMICON Taiwan展出溶液纳米粒子监测系统
2018/9/16 19:16:15   

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【产通社,9月15日讯】致茂电子(Chroma ATE Inc.;TWSE股票代码:2360)官网消息,其在SEMICON Taiwan实机展出了SuperSizer溶液纳米粒子监测系统。致茂电子在半导体测试领域拥有众多产品线,从研发至量产阶段所需之设备,包括ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台,皆有完整相对应产品提供客户最适合的选择,致茂集团更增加半导体前端制程的溶液监测与可符合趋势应用的AIoT连接测试解决方案。


鹰眼级SuperSizer溶液纳米粒子监测系统

半导体制程技术以极快的速度进步到10nm、7nm线宽,在不久的将来更将到5nm甚至于3nm。影响制程良率甚巨的纳米粒子监控技术现有技术只能勉强监控大于20nm的粒子,远远不及产线需求。致茂集团旗下的兆晟纳米科技推出制程良率改善利器SuperSizer纳米粒子监测系统,提供客户对制程液体里小于20nm的粒子大小及分布,并具有24小时即时监控的能力,能有效防范纳米缺陷形成于未然,大幅改善良率。


专为智慧连网所需的SoC测试系统 

随着智慧连网家庭市场的发展,要让住家变得更聪明、更方便,关键在于人工智慧(AI)资料分析技术、大数据(big data)的统计、语音(Audio)辨识系统、以及提升家庭网路连线的技术与安全性。致茂电子近年积极发展专为智慧家庭生态系统所需的SoC晶片的测试设备,持续推出整合性更高的量测解决方案,以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。

HDAVO(High Density Audio Video Option)高性能混和信号解决方案,为针对语音(Audio)辨识系的SoC所提供的高效能、高通道、高平行数的选购模组,拥有可同时输出的8(16)个差动源模组(AWG)和同时接收的8个差动测量模组(DGT),且在每一个差动源模组(AWG)上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组(DGT)上能提供高达250Msps的取样频率,具有高规格、低成本和多功能等优势,甚至能因应未来5G基频晶片所需的I/Q信号的产生与开发导入。搭配CRISPro软体套件,让使用者可以用图形化介面(GUI)或程式语言做测试程式的开发和除错(debug),让使用者能更快完成程式的开发与导入量产。


IoT连接测试解决方案 

Adivic MP5806 RF ATE测试方案,为致茂集团旗下的汇宏科技产品,针对Chroma半导体测试设备(VLSI/SoC测试系统),客户在既有的数位/类比/混合信号IC应用下,皆可经由选配添购Adivic MP5806,将测试设备扩充为俱备完整的射频晶片测试方案,可支援包含NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth与Tuner等各主要物联网(IoT)通讯标准,其所内含的10MHz~6GHz全频域覆盖之超高频宽VSG/VSA模组,更可泛用于未来各式无线通讯标准。


具备ATE功能的PXIe数位I/O卡 

Chroma 33010为具有自动测试系统(ATE)功能的PXIe架构PE card ,除传统ATE测试系统(Chroma 3380D - 256通道、Chroma 3380P - 512通道、Chroma 3380 - 1024通道)外,Chroma 33010更符合PXI 测试方案发展应用之趋势及需求,以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势,尤其在IoT及汽车电子IC测试上,PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器(MCU)、微机电(MEMS)、射频IC(RF IC)及电源IC(PMIC)等测试方案。

SEMICON Taiwan(9月5-7日),致茂电子将于台北南港展览馆一馆(摊位号:K2785)展出最新的半导体测试解决方案,我们也将提供客制化半导体/IC测试解决方案以满足您的特殊需求。我们相信,您将会有全新的体验与意想不到的收获。有您的支持,致茂才能更加茁壮,期待在本年度盛会中与您见面。

查询进一步信息,请访问官方网站http://www.chromaate.com。(Lisa WU, 365PR Newswire)    (完)
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