【产通社，9月15日讯】致茂电子（Chroma ATE Inc.；TWSE股票代码：2360）官网消息，其在SEMICON Taiwan实机展出了SuperSizer溶液纳米粒子监测系统。致茂电子在半导体测试领域拥有众多产品线，从研发至量产阶段所需之设备，包括ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台，皆有完整相对应产品提供客户最适合的选择，致茂集团更增加半导体前端制程的溶液监测与可符合趋势应用的AIoT连接测试解决方案。


鹰眼级SuperSizer溶液纳米粒子监测系统

半导体制程技术以极快的速度进步到10nm、7nm线宽，在不久的将来更将到5nm甚至于3nm。影响制程良率甚巨的纳米粒子监控技术现有技术只能勉强监控大于20nm的粒子，远远不及产线需求。致茂集团旗下的兆晟纳米科技推出制程良率改善利器SuperSizer纳米粒子监测系统，提供客户对制程液体里小于20nm的粒子大小及分布，并具有24小时即时监控的能力，能有效防范纳米缺陷形成于未然，大幅改善良率。


专为智慧连网所需的SoC测试系统 

随着智慧连网家庭市场的发展，要让住家变得更聪明、更方便，关键在于人工智慧（AI）资料分析技术、大数据（big data）的统计、语音（Audio）辨识系统、以及提升家庭网路连线的技术与安全性。致茂电子近年积极发展专为智慧家庭生态系统所需的SoC晶片的测试设备，持续推出整合性更高的量测解决方案，以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。

HDAVO（High Density Audio Video Option）高性能混和信号解决方案，为针对语音（Audio）辨识系的SoC所提供的高效能、高通道、高平行数的选购模组，拥有可同时输出的8（16）个差动源模组（AWG）和同时接收的8个差动测量模组（DGT），且在每一个差动源模组（AWG）上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组（DGT）上能提供高达250Msps的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，甚至能因应未来5G基频晶片所需的I/Q信号的产生与开发导入。搭配CRISPro软体套件，让使用者可以用图形化介面（GUI）或程式语言做测试程式的开发和除错（debug），让使用者能更快完成程式的开发与导入量产。


IoT连接测试解决方案 

Adivic MP5806 RF ATE测试方案，为致茂集团旗下的汇宏科技产品，针对Chroma半导体测试设备（VLSI/SoC测试系统），客户在既有的数位/类比/混合信号IC应用下，皆可经由选配添购Adivic MP5806，将测试设备扩充为俱备完整的射频晶片测试方案，可支援包含NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth与Tuner等各主要物联网（IoT）通讯标准，其所内含的10MHz~6GHz全频域覆盖之超高频宽VSG/VSA模组，更可泛用于未来各式无线通讯标准。


具备ATE功能的PXIe数位I/O卡 

Chroma 33010为具有自动测试系统（ATE）功能的PXIe架构PE card ，除传统ATE测试系统（Chroma 3380D - 256通道、Chroma 3380P - 512通道、Chroma 3380 - 1024通道）外，Chroma 33010更符合PXI 测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在IoT及汽车电子IC测试上，PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器（MCU）、微机电（MEMS）、射频IC（RF IC）及电源IC（PMIC）等测试方案。

SEMICON Taiwan（9月5-7日），致茂电子将于台北南港展览馆一馆（摊位号:K2785）展出最新的半导体测试解决方案，我们也将提供客制化半导体/IC测试解决方案以满足您的特殊需求。我们相信，您将会有全新的体验与意想不到的收获。有您的支持，致茂才能更加茁壮，期待在本年度盛会中与您见面。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.chromaate.com。（Lisa WU, 365PR Newswire）    （完）