【产通社，3月18日讯】致茂电子（Chroma ATE Inc.；TWSE股票代码：2360）官网消息，其于3月14-16日上海SEMICON China（摊位号: 3165）展出了最新的半导体测试解决方案，抢攻IoT及智慧汽车电子晶片市场。

3680全方位高精度/高效能SoC测试系统

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统，可提供高达2048个I/O通道且数位通道速率（data rate）最高可达1Gbps的资料速率（data rate）、最高512个平行测试待测物的能力及512MW测试资料记忆体深度，以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。应用范围包含微控制器（MCU）、数位音频、数位电视、机顶盒、数位信号处理器（DSP）、网络处理器（Network Processor）、现场可程式逻辑门阵列（FPGA）及消费性电子IC应用市场等测试方案。

HDAVO（High Density Audio Video Option）高性能混和信号解决方案，为Chroma 3680的选购模组，拥有可同时输出的8个差动源模组（AWG）和同时接收的8个差动测量模组（DGT），且在每一个差动源模组（AWG）上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组（DGT）上能提供高达250Msps的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，适用于标准的基频、视频、音频、图形、STB以及DTV等广泛的混合信号测试应用。

搭配于3680上所开发的CRISPro软体套件，让使用者可以用图形化介面（GUI）或程式语言做测试程式的开发，加上支援可同时测试（Concurrent Testing）的功能，以降低测试程式的时间，加快产品的量产速度。

Chroma 33010 PXIe数位IO Card

Chroma 33010 PXIe数位IO Card为PXIe架构，且具备自动测试系统（ATE）功能，Chroma除提供传统之ATE自动测试系统（Chroma 3380D：256CHs/3380P：512CHs/3380：1280CHs外，亦提供符合未来PXI 测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在IoT及车用感测IC测试上，PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器、微机电（MEMS）感测器、射频IC（RFIC）及电源IC（PMIC）等测试方案。

3200L-6光纤DC/RF测试系统

Chroma 3200L-6光纤DC/RF测试系统，应用于光学模组（OSA, box package）的DC与RF检测，具备光纤自动清洁与检测、光纤视觉定位与自动插拔、探针视觉定位与接触控制，探针重复精准度可达正负40um，支援工程实验单站式与量产整线式两种模式，提高导入弹性，大幅降低人力与测试损耗成本。
 
MP5806射频（RF）ATE测试专用机

Chroma半导体测试设备整合MP5806射频（RF）ATE测试专用机，涵盖6GHz范围内的无线测试规范，拥有4/8 RF Port及120MHz频宽。应用范围包含WiFi/BT/GNSS/NB-IoT/LoRa等无线通讯与IoT应用及RF元件测试（PA/LNA/Converter等），提供RF/Digital全方位ATE（CP/FT/SLT）测试解决方案。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.chromaate.com。    （完）