【产通社，3月11日讯】罗德与施瓦茨公司（Rohde & Schwarz）官网消息，其将参展2015年3月17-19日在上海新国际博览中心举办的2015慕尼黑上海电子展（E4馆4552号展位），展示其领先的电子，通信，半导体测试产品和解决方案。

此次展会，R&S公司共推出9个参展主题：
（1）VoLTE测试解决方案：CMW500无线终端综合测试仪、UPV音频分析仪。
（2）ZNrun通用元器件自动测试方案：ZNB矢量网络分析仪、ZN-Z85开关矩阵、ZND矢量网络分析仪。
（3）全新多端口器件测试解决方案：ZNBT矢量网络分析仪。
（4）无线收发机测试解决方案：SMW矢量信号发生器、FSW频谱与信号分析仪。
（5）无线测试自动化解决方案：SGS矢量信号发生器、FPS频谱与信号分析仪。
（6）最新EMI预认证测试接收机：ESRP EMI预认证测试接收机。
（7）高功率射频信号的生成与放大：BBA150宽带放大器。
（8）汽车电子通用产线测试台：TSVP开放测试平台。
（9）R&S数字示波器：RTO/RTE/RTM数字示波器。

本次展会，R&S公司展出全新的ZNrun元器件自动测试解决方案，ZND网络分析仪，ZNBT多端口网络分析仪，ZN-Z85开关矩阵和FPS信号分析仪。通过参观和交流，用户将体验到R&S公司的一流产品、服务以及先进理念，领略到R&S公司全方位打造的电子设计与生产的测试平台，感受R&S公司在电子行业的影响力。查询进一步信息，请访问官方网站http://www.rohde-schwarz.com。