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2013NI自动化测试技术高峰论坛-6月25日深圳
2013/6/18 13:18:54   

20多年来,全世界的工程师一直使用软件自定义的仪器创建各种自动化测试和测量应用。随着测试需求的日渐复杂,越来越多的测试工程师选择采用软件定义的模块化测试系统架构,从而取得更大的灵活性和更高的性能,同时花费更低的成本。
 
NI提出的以软件为核心的模块化解决方案,基于业界主流的自动化测试平台PXI,可选择具有不同功能与指标的模块化仪器,从而灵活快速的构建自动化测控系统。通过与PXI平台无缝连接的应用开发工具与系统管理软件,用户可通过交互式的方式确定系统参数,并自定义测试系统的功能,进而满足灵活性、可扩展性与可维护性等需求。开放的PXI硬件平台和灵活的软件工具还可兼容基于GPIB、LAN、Serial等接口的传统仪器,确保先前的设备投资。

推荐以下工程师和技术人员参加:从事生产测试,消费电子测试、半导体测试、音视频测试、射频和通信测试、硬件在环测试领域的项目经理、生产和研发工程师、测试工程师以及当前和未来从事热门电子测试与测量各项应用的工程师与管理团队等。


论坛议程安排:
·深圳 2013年6月25日14:00-17:00 深圳凯宾斯基酒店K3&K4厅(南山区后海滨路海德三道)
·7/02 东莞
·7/09 广州
·7/16 昆山
·7/23 苏州 


活动报名
·Email报名:china.events@ni.com
·电话报名:拨打 800 820 3633 或(021)5050 9800
 
本次论坛将在深圳、成都、苏州等8大城市巡回举办,与您探讨自动化测试系统的参考设计架构,分享构建基于PXI自动化测试系统所需的必备技术,结合实际的产品演示和案例分析进行深入、详细讲解:
·基于PXI平台快速构建混合信号测试应用
·选择PXI平台需要考虑的7点因素
·基于FPGA技术的自定义测控系统设计
·并驾齐驱——构建高效的并行测试架构
·重新定义射频测试---基于PXI平台构建高效灵活射频测试系统
·从模拟视频到3D数字视频——全方位的视频测试解决方案
·图形化环境下快速构建机器视觉应用

查询进一步信息,请访问官方网站http://china.ni.com/resource/at

    (完)
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