【产通社，10月10日讯】NI“第六届图形化系统设计巡回研讨会-加速定制嵌入式测控系统”将在北京、上海、深圳、合肥等21个城市巡回举办，深圳站即将拉开帷幕！

本次技术研讨会免费，具体安排如下：
· 时间：2012/10/16 周二 14:00-17:00
· 地点：深圳凯宾斯基酒店3楼K3&K4厅(南山区后海滨路海德三道)

工程师对于嵌入式测控系统的需求日益多样化，而传统嵌入式开发方式涉及PCB设计、制版、仿真与调试等多个流程，开发复杂度高，时间久。NI为初涉嵌入式软硬件设计的工程师和科学家提供了图形化系统设计方案，工程师可以利用现成可用的硬件品台在LabVIEW图形化开发环境下开发嵌入式处理器、FPGA和I/O。即使小型开发团队也能够更快地设计并推出创新的嵌入式测控系统。

在本次研讨会中，NI工程师将与您探讨创新嵌入式测控系统设计中的难点，并介绍如何创建需要特殊I/O，自定义信号处理算法，控制算法设计，自定义协议通信等需求的嵌入式测控应用。同时也将结合来自能源电力，机器人，生物医电等多个行业和领域的成功案例，分享提高系统性能并缩短开发周期的方法与技巧。

[涉及应用]
· 高可靠数据记录
· 控制器原型设计
· 控制算法的仿真与调试
· 机器状态监测/动态信号监测
· 移动机器人设计
[专题演讲精彩内容预览]
· 图形化方式下开发FPGA
· 控制算法的定制与开发
· 高效的原型开发与快速部署

更多详细信息，请登录http://www.ni.com，或者致电免费咨询电话：800-820-3633。