NI面向自动化测试的领先解决方案研讨会
时间：2012年7月5日，周四，14:00—17:00
地点：深圳凯宾斯基酒店3楼K3&K4厅(南山区后海滨路海德三道)

随着电子产品复杂度的不断提升和人工成本的增加，与此同时，为满足日益严格的质量标准以及严苛的产品投放市场时间，企业对自动化测试系统的灵活性、可扩展性和自动化程度均提出了更高要求。

针对这些需求，NI为新一代自动化测试系统提出了以软件为中心的模块化解决方案。基于业界主流的自动化测试平台PXI，可选择具有不同功能与指标的模块化仪器，同时可以满足功能、成本与体积等方面需求。通过与PXI平台无缝连接的应用开发工具与系统管理软件，用户可通过交互式的方式确定系统参数，并自定义测试系统的功能，进而满足灵活性、可扩展性与可维护性等需求。开放的PXI硬件平台和灵活的软件工具还可兼容基于GPIB、LAN、Serial等接口的传统仪器，确保先前的设备投资。

本次巡回研讨会，NI资深工程师将与您探讨自动化测试系统的参考设计架构，分享基于PXI构建自动化测试系统所需的必备技术，并通过实际的产品演示和案例分析介绍从直流到射频的多种应用，包括混合信号测试、并行测试、音视频测试、无线通信测试、硬件在环仿真等。

研讨会内容亮点
- 如何高效实现并行自动化测试
- 国内外最新自动化测试案例详解
- 如何通过改变测试策略提升测试效率

展示DEMO
- NI多UUT并行测试
- NI射频应用综合测试平台
- NI智能照相机

报名方式：
本次会议完全免费，如希望参加，请通过以下方式：
在线报名：http://www.gsdzone.net/EventSystemWeb/JoinATEvent.aspx
电话报名：拨打800 820 3633或（021）5050 9800 转NI市场部
微博私信报名： “@美国国家仪器”t.sina.com.cn/doengineering

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