【产通社，5月22日讯】安立公司（Anritsu）官网消息，其在刚刚结束的美国无线通信展（CTIA 2012）上展示了MD8475A的信道衰落接口与MF6900A基带衰落仿真仪的连接。有了这个接口，MD8475A拥有LTE衰落功能，包括多径衰落，时延特性，支持多达2x2 MIMO的多天线信道模型。

“我们很高兴能加入衰落模拟功能到MD8475A中，为其丰富的测试能力锦上添花。”安立公司的副总裁和总经理Wade Hulon说，“我们知道，在实验室的仿真环境下去测试终端要比使用测试网络或现实网络更容易，所以我们通过这个新功能，能让测试变得更有时效，更节约成本。”

展品特点

MD8475A应用测试仪是一个集成多种功能的，基于Windows7的测试仪，它能够模拟两个基站，支持LTE，W-CDMA，GSM/EGPRS和CDMA2000通信标准。通过在MD8475A里安装服务器或连接到外部服务器来支持端到端测试。安立公司

的SmartStudio GUI提供简易的图形控制界面，而且不需要脚本就能模拟真实的网络。新增加了可选的VoLTE的测试功能，内部的CSCF服务器能够验证并建立VoLTE回环呼叫，能够选择不同服务器的响应状态，包括忽视和拒绝。

新选项的增加，让工程师能够集成MD8475A与MF6900A来运行3GPP LTE标准规定的衰落模拟测试，包括SISO和2x2 MIMO配置。MF6900A采用全数字基带处理以确保衰落在相同设置下的重复性，同时大大简化了MIMO功率控制困难，实现更高的精确度。

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