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CHIPWORKS推出电晶体特性检测服务
2005/11/3 10:27:46     CHIPWORKS

    Chipworks公司是一家专门从事还原工程(reverse engineering)及系统分析之半导体业界领导厂商。该公司11月2宣布推出专为次微米电晶体(如90nm或65nm CMOS技术节点)而设的直流电晶体特性检测服务。电子器材生产及设计业者现可利用此服务,取得任何市面上发售的新型积体电路内之直流电晶体(CMOS或双极)特性的资讯。

    客户能把Chipworks所提供的结构及性能分析用于市面上各种新科技、业界已有数据、或相关技术的过往版本作比较。此系列的产品及服务带出新技术,能为客户提供合时而详尽的情报,有助客户把他们与竞争对手的产品作出评价;而代工业者则可把有关情报作验证及批核的参考数据之一部分。Chipworks把握时机,并留意到亚太区内电晶体特性检测服务的客户有上升的趋势。

    标准的CMOS技术评估报告内容包括NMOS及PMOS两种电晶体的最小闸极长度数据(并提供按推算或量度时所录得的各种影响数据因素),包括闸极宽度、具体闸极长度、线性临界电压、 转移特性迁移、饱和临界电压、次临界电压升幅、互导作用、开启状态下的驱动电流、关闭状态下的漏电流、基体效应、穿透电压、基体电流。

    另外,Chipworks公司亦可为先进双极元件提供类似检测数据。相关咨询请致电Chipworks 公司: 613-829-0414 ext 3061。

    (完)
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