【产通社，9月10日讯】中国赛宝实验室（CEPREI）官网消息，为了进一步提高对长三角电子制造企业的技术服务能力，由华东实验室建设的材料与元器件无损测试实验室目前正式完成设备的安装、调试工作，标志着华东实验室理化分析部材料与元器件无损测试实验室正式建立，即日起可以给工业界提供材料与元器件内部缺陷的检测分析服务。

该无损测试实验室主要新引进X-ray透视系统和超声波扫描面显微镜两台套大型无损测试设备，它们是材料检测和电子产品重要的失效分析检测重要技术手段。查询进一步信息，请访问http://www.ceprei.com。

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X-RAY透视系统用途：
1、材料内部缺陷（空洞、气泡、裂缝等）检查；
2、PCBA焊点焊接质量诊断与检测；
3、元器件内部引线键合缺陷诊断与检测；
4、裂缝或空洞尺寸测量

主要技术指标：
. 设备名称：X射线透视系统
. 型号：YXLON SMT Cougar
. 电压范围：30kV~160kV；
. 最小分辨率：小于1um；
. 最高几何放大倍数：大于1200倍；
. 旋转范围：倾斜至少70度＋全圆周自动旋转；
. 成像系统灰度等级：优于16-bit；
. 最大样品尺寸：≥440 x 550mm；
. 最大检测区域：≥310 x 310mm。

超声波扫描面显微镜用途：
1、材料内部杂质、夹杂物、沉淀物的诊断与检测；
2、材料内部空洞、气泡、空隙、裂缝等缺陷检测；
3、元器件粘接层有无分层、附着物以及其他人为夹杂物；

主要技术指标：
. 设备名称：超声波扫描显微镜
. 设备型号：Sonoscan D 9500
. 换能器：低频至高频（15MHz、30MHz、50MHz、100MHz、230MHz，300MHz），满足不用样品检测需求；
. 扫描模式：A-Scan(某点扫描)、B-Scan(块扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、Q-BAM(虚拟横截面)、T-Scan (穿透式扫描)、3-V(3维图像)、Tray-Scan(盘扫描)；
. 最大扫描范围：12.0×12.0英寸（305×305mm）；
. X,Y,Z轴移动重现性：小于±0.5μm；
. 门限：门限位置可精确至1.0ns，限宽0.25ns~1.0μs可选；
. 图像分辨率：优于268百万像素。