【产通社，7月18日讯】安捷伦科技公司（Agilent；NYSE：A）官网消息，其最新版本的器件建模软件平台――IC-CAP 2011.04集成电路表征和分析程序将IC-CAP Wafer Professional自动测量解决方案与IC-CAP CMOS模型提取套件相结合，能够显著改善半导体器件的建模流程。先进的CMOS器件建模需要执行大量测量，以分析制程趋势，确定提取典型和边际器件模型所需的数据。管理和分析数据，以确保为复杂的模块提取和验证做出正确的选择，是一项很大的挑战。这通常需要建模团队使用多种软件工具来转换将数据格式，但这样既不精确又缺乏效率。IC-CAP WaferPro帮助用户以最有效的方式收集和管理大量数据。现在，IC-CAP CMOS建模套件首次能够与WaferPro完美结合。

Agilent EEsof EDA事业部产品经理Roberto Tinti表示：“从2010版本开始，IC-CAP WaferPro凭借其性能、灵敏度、对测试仪器和系统的广泛支持，以及最大程度地帮助使用实验室设备等优势，已经日益成为客户的理想选择。我们非常高兴地将WaferPro的强大功能提供给所有Agilent CMOS提取套件用户。这样，我们可以帮助他们更有效地安排从测量到提取从整个流程。”

产品特点

通过IC-CAP 2011.04，用户能够在Agilent CMOS套件环境中定义器件和测量测试，自动生成可在各种测试设备上执行的WaferPro测试方案。通过WaferPro表征各种几何形状的器件后，CMOS提取模块将自动读取测量数据用于模型提取。由于不需要在测量和建模应用之间进行数据传输或格式转化，这极大地提高了流程效率。

除了WaferPro和CMOS套件组合，IC-CAP 2011.04还增加了对Windows 7的支持，并且改进了仿真、测量和编程环境中的几个平台。增强功能包括使用Verilog-A和Agilent ADS仿真器（在IC-CAP分析模块中免费使用，无需额外的许可证）进行仿真，并支持spice网表中的PARAM语法格式。此外，WaferPro现在支持Tokyo Electron P8/P12全自动探针台，同时B1505A直流功率分析仪驱动程序支持在多个偏置单元上进行脉冲偏置。

Agilent IC-CAP WaferPro和CMOS建模套件

W8510 IC-CAP WaferPro通过控制半自动和全自动探针台和先进仪器（例如Agilent 4080参数测试仪），支持用户以不同的温度执行自动晶圆上测量。它是进行DC-CV和射频器件建模测量的最强大的测量套件。IC-CAP CMOS测量和提取套件提供专用的软件环境，以提取先进CMOS器件的典型和边际模型。它完全支持用于CMOS业界标准模块（例如BSIM3、BSIM4、PSP和HiSIM）的有效的参数提取程序。该套件能够在提取当前CMOS器件的复杂多样的模型过程中，适当地平衡一键式解决方案的效率及自定义参数提取的需要。

Agilent IC-CAP软件

Agilent IC-CAP软件是一个器件建模程序，拥有强大的表征和分析功能，可用于当今的半导体建模工艺。IC-CAP可以高效、准确地提取有源器件参数和电路模型参数，执行多项建模任务，包括仪器控制、数据采集、图形分析、仿真和优化等。半导体代工厂和设计公司利用它来表征晶圆工艺。

Agilent EEsof EDA软件

Agilent EEsof EDA是业界顶尖的电子设计自动化软件供应商，其EDA软件适用于微波、射频、高频、高速数字、射频系统、电子系统级产品、电路、三维电磁场、物理设计和器件建模等应用。

供货与报价

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