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苏州苏试试验集团取得开盖式晶圆级封装芯片老化测试插座等发明专利
2023/8/13 8:32:43     

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【产通社,8月13日讯】苏州苏试试验仪器股份有限公司(Suzhou SUSHI test instrument;股票代码:300416)消息,其近日取得了国家知识产权局颁发的发明专利证书,具体情况(名称、专利权保护期限、授权公告日、专利号)如下:
一种气动碰撞试验台的控制装置及其控制方法  2020年6月30日-2040年6月29日  2023年1月24日  ZL202010608290.3
一种具有防护功能的低频大位移颠振试验台  2020年12月9日  -2040年12月8日  2023年3月28日  ZL202011445411.3
一种电磁兼容电波暗室电磁干扰测试可视化系统  2022年3月25日-2042年3月24日  2023年6月27日  ZL202210305533.5
冲击试验台  2017年8月25日-2037年8月24日  2023年4月25日  ZL201710743826.0
开盖式晶圆级封装芯片老化测试插座  2017年2月23日-2037年2月22日  2023年7月25日  ZL201710098764.2
一种超重型样品振动试验工装及使用方法  2021年2月21日-2041年2月20日  2023年7月18日  ZL202110194697.0

查询进一步信息,请访问官方网站http://www.chinasti.com。(Donna Zhang,张底剪报)    (完)
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