【产通社，6月6日讯】深圳市一博科技股份有限公司（Shenzhen Edadoc Technology Co.,ltd.股票代码：301366）消息，其近日取得由国家知识产权局颁发的发明专利证书，具体情况如下：

一种测试走线DUT性能的仿真方法
发 明 人：吴均；黄刚
专 利 号：ZL201910505355.9
专利申请日：2019年06月12日
授权公告日：2023年04月07日 
授权公告号：CN110298086B
本发明公开了印制电路板测试领域中的一种测试走线 DUT 性能的仿真方法，仅通过精确的仿真就可以得到 DUT 的性能，无须购买昂贵的专业去嵌软件。其与专业的去嵌软件相比，成本得到了大幅度降低，并且本发明能够得到高精度的仿真结果，整个仿真过程操作简单。

一种能在PCB上快速抓取元器件Group的方法
发 明 人：吴均；黄运坚
专 利 号：ZL202010380823.7
专利申请日：2020年05月08日
授权公告日：2023年05月23日 
授权公告号：CN111625879B
本发明公开了一种能在印制电路板（PCB）上快速抓取元器件 Group 的方法。该方法操作步骤少，能够极大减少人为误操作，同时提升了检查人员的工作效率。

传输线铜箔损耗的计算方法、装置、设备及存储介质
发 明 人：刘丽娟；吴均
专 利 号：ZL201810841001.7
专利申请日：2018年07月27日
授权公告日：2023年05月26日 
授权公告号：CN109117530B
本发明实施例公开了一种传输线铜箔损耗的计算方法、装置、设备及存储介质。本实施例提供的方法可以预先准确计算铜箔损耗，从而降低生产成本和产品设计风险，缩短设计周期。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.edadoc.com。（Donna Zhang，张底剪报）    （完）