【产通社，6月6日讯】吉时利仪器（Keithley；NYSE：KEI）网站消息，其4200-SCS半导体特征分析系统进行了全面的硬件、固件和软件升级，测试环境交互式软件（KETI）V7.2版现在囊括了9种新的太阳能电池测试库，扩展了系统电容-电压（C-V）测量功能的频率范围，支持该公司最新的九槽4200-SCS仪器架构。

KTEI V7.2新增的测试库增强了4200-SCS进行太阳能电池I-V、C-V和电阻测试的功能，在人们对可替代能源技术越来越感兴趣并且政府支持力度越来越大的情况下，这些测试功能将变得越来越重要。本次软件升级还支持最新的太阳能电池测试技术DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling，激励电平电容压型），而采用原来的测试方案是很难精确测试的。DLCP能够提供薄膜太阳能电池上的缺陷密度信息。早在2007年11月份推出的4200-CVU型电容-电压测试卡经过改动可直接支持这一测试技术。

为支持DLCP测试，4200-CVU的频率范围已经从10kHz～10MHz扩展到1KHz～10MHz。经过扩展的频率范围也扩大了系统的应用领域，能够支持平板LCD和有机半导体（例如有机发光二极管OLED）的测试。

随着I-V、脉冲和C-V特征分析应用的不断增长，需要更大测试灵活性和更强功能的4200-SCS用户逐渐发现他们的主机有些拥挤不堪了。为了满足这一需要，本次V7.2版的升级还支持九槽主机架构。以前，4200-SCS只有八个插槽，安装了越来越多的源测量单元（SMU）、脉冲发生器和示波器卡以及电容-电压测量卡。现在的4200-SCS系统经过升级可以支持九个插槽；所有新的主机都将提供九个插槽。

为了支持V7.2版的升级，吉时利还推出了一款新的高性能三同轴线缆套件，用于连接4200-SCS和探测器，能够大大简化在直流I-V、C-V和脉冲测试配置之间转换的过程。这款新的线缆套件无需用户重新进行布线，也能够消除由于布线误差导致的测量误差。其中包括两种线缆套件——一种适用于Cascade Microtech探测器，另外一种适用于SUSS MicroTec探测器。

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