【产通社，6月24日讯】亚德诺半导体公司（Analog Devices；NASDAQ股票代码：ADI）官网消息，其和Keysight Technologies（NYSE股票代码：KEYS）合作，以加快Open RAN无线电单元（O-RU）的网络互操作性和合规性测试。 

双方将合作构建一个强大的测试平台，以验证新O-RU的互操作性，包括ADI的low-PHY基带、软件定义收发器、电源，以及与Intel FPGA集成的时钟。将Keysight的Open RAN仿真、信号生成和信号分析能力应用到广泛的用例中，以改善测试过程，降低复杂性和缩短测试时间。

Keysight商用通信部副总裁兼总经理Kailash Narayanan表示：“我们很高兴与O-RU技术解决方案的领导者ADI合作，帮助服务提供商发挥O-RAN规范的全部潜力。Keysight和ADI提供技术和测试解决方案，在无线电单元和核心网络之间建立一个有效的桥梁，从而加速开发和互操作性测试。” 

据Dell-Oro Group预测，到2025年，Open RAN技术将占整个无线电接入网络市场的10%以上。ADI和Keysight的合作帮助提供了该行业向开放、分立和虚拟化的RAN（vRAN）架构过渡的商业机会。 

ADI公司无线通信事业部副总裁Joe Barry表示：“通过将ADI和Keysight双方的技术、工具和设计资源整合在一起，我们能够为O-RAN生态系统提供鲁棒的平台，以加快开发可靠的O-RU。通过合作，我们为客户提供开发经济高效、节能且可互操作的支持O-RAN的O-RU的最快路径。”

基于O-RAN联盟开放式接口的Open RAN基础架构使移动运营商能够创建一个鲁棒的多供应商网络环境，以便为制造、财务、运输、物流和医疗保健企业提供先进的5G服务。从RAN边缘到5G核心部分（5GC），O-RU的性能验证和网络单元之间的互操作性测试，使移动运营商能在多供应商5G网络中高效部署O-RAN。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.analog.com/Pr210622/videos/6257441448001。（张怡，产通发布）    （完）