【产通社，1月23日讯】北京理工大学（Beijing Institute of Technology, BIT）官网消息，中国仪器仪表学会2020年科技奖励大会暨九届三次理事（扩大）会议日前在浙江省杭州市召开，本次大会上颁发了2020年中国仪器仪表学会科学技术奖，其光电学院郝群教授团队申报的“虚-实融合瞬态干涉复杂表面精密测量技术及应用”项目荣获技术发明一等奖。 

该项目历经15年的产学研用联合攻关，在国际上首次提出了虚-实融合部分补偿数字莫尔干涉测量新原理，发明了调制生成复杂面形基准波面的部分补偿方法、非线性两步载波数字莫尔移相相位提取方法和基于像差最佳部分补偿的面形误差和面型参数误差精密测量方法，与国外同类先进产品相比，面形误差测量精度提高1.5倍，填补了复杂表面“形参同测”干涉测量仪器的国际空白。该成果增强了我国高精度光学制造水平，取得了显著的经济效益和重大社会效益。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.bit.edu.cn。（Robin Zhang，张底剪报）    （完）