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JEOL推出JSM-F100肖特基场发射(FE)扫描电子显微镜
2019/8/10 21:44:08     

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【产通社,8月10日讯】日本电子株式会社(JEOL Ltd.;TOKYO股票代码:6951)消息,其新型肖特基(Schottky)场发射扫描电子显微镜JSM-F100,可应用于不同的领域:纳米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等。


产品特点


随着应用范围的扩大,SEM用户需要快速、高质量的数据采集及简单的组成信息确认和无缝操作。JSM-F100搭载浸没式(In-lens)肖特基Plus场发射电子枪和Neo Engine(电子光学控制系统),以及全新的GUI SEM Center和创新的“实时图像视觉增强器-人工智能(LIVE-AI)滤镜”,实现了高空间分辨率成像和可操作性的最优组合。

此外,标配的JEOL能量色散型X射线光谱仪(EDS)完全整合于SEM Center内,可实现从图像到元素分析结果的无缝采集。JSM-F100提供卓越的工作效率,高出我们之前的JSM-7000系列50%或以上,实现了生产量的显著提高。 


供货与报价


查询进一步信息,请访问官方网站http://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20190804.3456.html。(Jack Zhang,产通互联网)    (完)
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