【产通社，11月22日讯】杭州远方光电信息股份有限公司（EVERFINE Corporation；股票代码：300306）消息，其近日收到美国专利商标局颁发的《METHOD FOR ANALYSIS OF THERMAL RESISTANCE（一种热阻分析方法）》发明专利证书，专利号US10,094,792B2，申请日期2013年12月24日，授权公告日2018年10月9日，专利权期限为二十年，自申请日起算。

本发明提供了一种热阻分析方法，通过建立被测对象的热传导数学模型，并基于热源的关键数据和热学模型参量双向求解和分析热传导数学模型，可以准确获取被测对象接触界面的热阻以及各热传导部件内部的热阻分布，实现被测对象热阻结构的准确量化分析，全面评价被测对象内部的热接触状况，为LED、二极管等各种器件的散热设计提供重要依据和评判手段，具有准确度高、速度快、适用范围广等特点。

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.everfine.cn。（robin, 张底剪报）    （完）