【产通社，5月15日讯】上海华岭集成电路技术股份有限公司（Sino IC Technology Co.,Ltd.；NEEQ股票代码：430139）官网消息，根据《关于开展2018年度上海市科学技术奖推荐工作的通知》（沪【2018】98号）文件的要求，其申报2018年度上海市科学技术奖项目《28nm集成电路芯片先进测试技术研究及平台建设》基本信息予以公示。公示期为2018年4月28日至2018年5月4日。
 
一、项目名称：28nm集成电路芯片先进测试技术研究及平台建设

二、项目简介

为推动我国集成电路制造产业的发展，提升我国集成电路制造装备、工艺及材料技术的自主创新能力，根据“极大规模集成电路制造装备及成套工艺”国家科技重大专项指南，公司立项开展拥有我国自主知识产权的28nm集成电路芯片先进测试技术研究及平台建设，通过研发先进的测试技术，形成封装与测试一体化的服务能力，满足国内自主产品28nm先进工艺的测试需求。

项目围绕国际集成电路产品发展趋势，针对国内集成电路产品测试技术升级，研发了基于28nm集成电路芯片先进测试技术平台的融合创新架构技术、软硬件融合协同测试技术、RFIC芯片测试技术、高端SoC嵌入式典型IP功能模块测试技术、千万门级FPGA测试算法技术等关键技术，利用大数据挖掘分析，构建多学科技术融合、物联网测试应用及智能软硬件融合测试的智能测试中心，实现国内集成电路测试产业的自主可控，完成28nm集成电路芯片测试公共服务平台。重大技术创新如下：

三大突破性技术革新：
（1）基于28nm集成电路芯片先进测试技术平台的融合创新架构技术；
（2）基于“芯-端-云”架构的互联网+集成电路测试技术；采用结构测试技术实现“瞬时”故障捕获；
（3）突破高端集成电路芯片测试技术，完成建立高端集成电路测试公共服务平台。

关键技术创新：
（1）构架于国际先进装备之上的融合创新测试技术体系；
（2）软硬件协同测试技术；
（3）芯片远程人机互动创新测试技术；
（4）核心芯片比测解决方案；
（5）高端SoC应用处理器测试技术；
（6）12GHz超高速RFIC芯片全自动产业化测试。

关键技术指标：
（1）在28nm领域率先完成了：构架于国际先进装备之上的融合创新测试技术体系，基于STIL Bridge的接口软件和多平台测试接口硬件设计，实现多平台的Smart Link Kit软硬件融合的测试技术服务；
（2）建立了比测方法体系和比测评价环境，为核心芯片提供全温区（-55°C至125°C）的功能性能比测方案；
（3）完成MEMS prober、DD prober等适应先进工艺产品测试工程技术，实现>4300pins高密度微间距探针系统测试，多套平台晶圆级高速芯片量产比对，并实现稳定量产。
（4）完成建立的12英寸、28nm集成电路的测试技术开发平台，支持16Gbps数字速率，混合模块，射频收发24ports。
（5）突破了12GHz超高速RFIC芯片全自动产业化测试技术，提供测试评价、稳定性监控等全自动产业化测试解决方案。

利用该项目研发的科研成果和测试平台建立了面向军用和民用的测试实验室，获得CNAS资格证书、CMA计量认证以及国家保密资质、武器装备承制单位认证；同时，有效支持了01、02专项及其他政府部门相关项目的测试和验收工作；平台纳入了上海市集成电路公共服务平台系统，实现了资源开放共享，连续六年获得“上海市大型科学仪器设施共享服务先进集体”称号。
项目研发技术成熟，完成建立的12英寸、28nm集成电路的测试技术开发平台，每年为70多家100多项产品提供芯片测试验证分析和产业化生产测试服务，年产能超过20万片，每年测试年产量达到4亿颗。凭借本项目的研发及建设平台的应用。

三、知识产权情况

国别、知识产权类别、授权号、名称、
中国  授权发明专利  ZL201210236898.3  用于无时钟电路的标签芯片的测试方法及测试装置
中国  授权发明专利  ZL201210402378.5  探针卡平整度检测方法
中国  授权发明专利  ZL201310573298.0  提升平整度和绝缘性的探针卡
中国  授权发明专利  ZL201310597669.9  接口转换检测装置及接口检测方法
中国  授权发明专利  ZL201210413616.2  集成电路测试系统及测试方法
中国  授权发明专利  ZL201310574106.8  芯片测试系统及芯片测试方法
中国  授权发明专利  ZL201310163077.6  多模块平行测试系统
中国  计算机软件著作  2012SR068157  华岭串行通信控制器芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2012SR068158  华岭加密移动存储控制SOC芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2012SR074209  华岭嵌入式微处理器信息安全芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2013SR014739  华岭高性能调制解调器芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2013SR022645  华岭PCM编解码芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2013SR008030  华岭并行测试效率评估优化软件
中国  计算机软件著作  2013SR018459  华岭测试流程全自动调整软件
中国  计算机软件著作  2013SR052397  华岭全自动测试数据统计及测试判据优化软件
中国  计算机软件著作  2014SR116912  华岭云测试客户端软件
中国  计算机软件著作  2014SR137819  华岭EDA文件到ATE测试矢量自动转换软件
中国  计算机软件著作  2014SR117856  华岭ERP高柔性信息管理软件
中国  计算机软件著作  2015SR132237  华岭晶圆测试MAP图整合分析工具软件
中国  计算机软件著作  2015SR136447  华岭凸点晶圆测试MAP图转换合成软件
中国  计算机软件著作  2015SR189476  华岭高集成度模拟输出CMOS图像传感芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2015SR190694  华岭移动通信RFSoC芯片测试软件
中国  计算机软件著作  2016SR093909  华岭基于自主设计光源系统的图像传感器测试软件

四、主要完成单位：上海华岭集成电路技术股份有限公司

五、主要完成人：张志勇、刘远华、叶守银、汤雪飞、祁建华、王锦、罗斌、余琨、牛勇、王玉龙

查询进一步信息，请访问官方网站http://www.sinoictest.com.cn。    （完）