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【产通社，11月30日讯】牛津仪器（Oxford Instruments）官网消息，1986年至今，原子力显微镜技术已经过30年的发展。30年间，AFM的功能也从最初的表面形貌测量发展成功能全面的材料物性测试工具。随着技术的进步，如今第三代原子力显微镜能够实现高分辨率成像，快速扫描的能力，并且更易操作。
牛津仪器原子力显微镜将在南京大学和四川大学分别举行“原子力显微镜技术最新进展研讨会”。两场研讨会将分别就AFM技术进展和纳米电学性能表征测试等议题进行分享，现场演示超高分辨率，具有快速扫描能力的Cypher AFM。
“原子力显微镜技术最新进展研讨会”南京大学站
时间：2016年11月22日
地点：南京大学仙林校区（仙林大道163号南京大学电子科学与工程系）
“原子力显微镜技术最新进展研讨会”四川大学站
时间：2016年11月23日
地点：四川大学望江校区（成都市一环路南一段24号红瓦寺街北苑宾馆三楼茶坊大会议室）
查询进一步信息，请访问官方网站 http://www.oxford-instruments.cn/asylumresearch。 （完）
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