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中科院微电子所30Gsps 6bit ADC/DAC芯片通过应用验证
2016/6/29 16:02:26     

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【产通社,6月28日讯】中国科学院微电子研究所(Microelectronice of Chinese Academy of Sciences)官网消息,在国家“863”项目的支持下,其成功研制出超高采样率、宽频带的30Gsps 6bit ADC/DAC芯片。该芯片的使用简单灵活,可实现并行多波段/多波束运行,并可提供较高的动态范围。目前,该芯片已在武汉邮电科学院构建的1Tb/s相干光OFDM传输验证平台上实现应用验证。 

30Gsps 6bit ADC芯片面积为3.9×3.3mm ,采用4路交织技术,子ADC采用自主创新的折叠内插架构。芯片内部集成三项误差校准电路,通过与FPGA配合可实现通道之间的自动校准。芯片输出采用24路高速串行数据接口,支持在30GSps采样率下全速率输出。芯片的最高采样率为30Gsps,每秒可产生300亿次模数转换,总功耗为8W。该款芯片的-3dB带宽为18GHz。在30Gsps采样率下,低频有效位达到5bit ,高频有效位大于3.5bit,无杂散动态范围(SFDR)大于35dBc。 

30Gsps 6bit DAC的芯片面积为3×2.8mm,采用了分段式电流舵DAC架构。该芯片集成24路高速串行数据接收器,以及4-1MUX高速电路,支持在30GSps采样率下全速率输出。该芯片还集成了占空比校正和延迟偏差校准电路。测试结果表明芯片在30Gsps 采样率下工作时,低频无杂散动态范围(SFDR)达到44dBc,在第一奈奎斯特区内SFDR大于28.5dBc。芯片总功耗6.2W。 
 
其于2006年在刘新宇研究员带领下成立了超高速数模混合电路研发团队,以实现AD/DA研制的整体跨越为目标。经过近10年的技术积累,团队在超高速ADC/DAC的设计方法、理论分析方法以及封装测试等方面积累了丰富的研究经验,在国内外一流学术刊物上发表了20多篇学术论文,申请了20余项发明专利,建立起了通用采样率为Gsps的数模混合电路的设计分析和测试评估平台。 

查询进一步信息,请访问官方网站http://www.ime.cas.cn。    (完)
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