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天瑞仪器X荧光光谱分析仪等5项专利获国家知识产权局受理
2016/4/29 13:32:37     

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【产通社,4月29日讯】江苏天瑞仪器股份有限公司(Skyray Instrument Inc.;证券代码:300165)2015年年度报告显示,截止到2015年12月31日,其及子公司已取得国家知识产权局受理的专利5项,具体情况(序号、名称、专利申请日、专利号、权利取得方式、类型、 权利人、状态)如下:

1 基质辅助激光解吸电离用样品激发和样品成像的光路装置 2015.4.17 201520237014.5 原始取得 实用新型 本公司 受理
2 一种X荧光光谱法对谷物中硒元素的快速测定方法 2015.6.3 201510297368.3 原始取得 发明 本公司 受理
3 正比计数管及X荧光光谱仪 2015.11.27 201520967447.6 原始取得 实用新型 邦鑫伟业 受理
4 X荧光光谱分析仪 2015.12.29 201521113363.2 原始取得 实用新型 邦鑫伟业 受理
5 波长色散X荧光光谱仪 2015.12.29 201530563210.7 原始取得 外观 邦鑫伟业 受理

查询进一步信息,请访问官方网站http://www.skyray-instrument.com。    (完)
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