为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation，纳斯达克代码：CMOS）7月17日推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。

Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计（DFT）方法，助其显著降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。

这一新设备是与领先的微处理器生产厂商AMD公司合作开发的。目前，AMD的工程师正采用Sapphire平台和D-6432DFT加速其最先进产品的测试和上市周期。在全球数以百计的Sapphire平台装机量中，已有200多个D-6432DFT设备安装在了屡获殊荣的Sapphire平台中，进行生产测试。

AMD公司自动测试设备（ATE）技术经理兼高级技术工程师Pete Hodakievic表示：“市场对高速总线接口测试和快速数据传输率提出了越来越高的要求，迫切需要一种比简易承载板环路测试技术更为强劲的测试方法。同时，我们又因为需要控制测试成本，而无法采用传统的测试设备和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我们用单次插入即可完成对最先进的微处理器芯片进行高速环路测试、DC参数测试，以及扫描和功能测试。相比全功能测试，D-6432DFT不仅有更好的测试覆盖，还可以显著降低测试成本。”

为了实现更高的数据速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越来越多的应用。然而，高速总线对传统“功能”测试方法的成本、复杂性和周期都提出了挑战。这些不确定因素在低速测试时能运作无误，但速度高于6Gbps以上时，则有可能产生风险。目前的“近端”环路（即利用设备来输出测试数据，再回收数据至设备以进行识别）技术简单、性价比高，但难以有效地处理抖动、信号变异和协议性能，从而导致测试不完全或测试死角。集成电路制造商需要采用可测性设计方法，才能对那些影响设备和系统性能的关键变量进行灵活、全面的测试。

Sapphire D-6432DFT有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。

Sapphire D-6432DFT设备现已投放市场。在7月17-18日举办的Semicon West展会期间, 科利登技术中心展出了Sapphire D-6432DFT设备，还现场展示了科利登完整的测试解决方案，包括曾经获奖的Sapphire平台和Diamond平台。了解更多，请访问http://www.credence.com