【产通社，12月14日讯】爱德万测试（Advantest；TSE：6857/纽交所代码：ATE）官网消息，其新T6391系统用于测试新一代显示器驱动器集成电路（DDI）及这些集成电路中用于控制高分辨率LCD面板的嵌入式功能。该新型测试系统旨在应对下一代DDI市场中的三大重要趋势——显示器驱动设备上的管脚数不断增加，接口速度不断加快以及多种功能高度集成，所有这些均有助于提高显示器的分辨率。

先进DDI的高度集成性带来了一些独特的测试难题。例如，由于LCD的触摸传感器功能集成在DDI中，因此要对大量逻辑/模拟电路进行测试。在可预见的将来，电源管理集成电路（PMIC）功能也可能集成到DDI中。此外，越来越多的LCD面板投入移动应用（包括智能手机、平板电脑和笔记本电脑），扩大了市场对小型化、高性能设备的需求。

爱德万测试ASD测试业务执行副总裁Satoru Nagumo说，“我们的Pin-Card设计为DDI制造商提供了市场上最佳的设计和生产解决方案。该新型测试系统使用范围广，可用于所有类型的应用，包括高管脚数的半导体、高速接口、模拟电路、存储器和逻辑器件。”

产品特点

T6391是唯一一款能满足当前和未来所有测试要求的测试平台。作为成熟T6300产品系列的一员，该新型测试机使用的工程环境模式与之前已装机的T6300系列的1500多台测试机台相同。虽然使用的是同一套TDL编程语言，但其数据传输和计算速度更快，产出也更高。

该测试系统的高速总线可实现高产出测试。T6391拥有512个I/O通道，能够同时测试多个芯片。它能适应拥有多达3584个LCD管脚的高分辨率DDI。具备了这一功能，该测试系统完全可以测试目前管脚数量最多的LCD，包括全高清（HD）、WXGA和HD720显示器。

T6391可处理高达1.6Gbps的I/O管脚频率，从而能够测试使用MIPI的LCD。此外，该系统还有一个测量模块，可对将在下一代超高清电视（包括4K@2160p）LCD驱动器中使用的更快接口（最多6.5Gbps）进行测试。

16通道任意波形发生器（AWG）和数码拍摄功能可提供测试模拟集成电路的能力。可使用系统的扫描码型发生器（SCPG）、算法图形发生器（ALPG）和算法故障内存（AFM）模块对通过触摸传感器运行的DDI进行扫描和内存测试。

供货与报价

爱德万测试计划今年年底开始向客户交付T6391测试系统。查询进一步信息，请访问官方网站http://www.advantest.com。