【产通社，8月20日讯】中国赛西（广州）实验室（CESI）官网消息，中国电子学会8月8日主办召开了“功率半导体器件直流参数测试系统及标校装置等”三项科技成果鉴定会。鉴定会由清华大学尤政院士主持并担任鉴定委员会主任委员，来自工业和信息化部、国家质检总局、国家计量院、中国电子学会、总装某计量测试中心、北京航空航天大学等单位的专家组成鉴定委员会。中国电子技术标准化研究院（CESI）张宏图副院长、陈大纪副院长及项目组人员参加了本次鉴定。

CESI本次参评的三个项目成果分别是“功率半导体器件直流参数测试系统及标校装置”、“直流低电压/小电流源表校准装置”和“平板显示器运动图像清晰度测试系统”。鉴定会上，鉴定委员会专家听取了项目的研制报告、技术报告、应用报告及经济效益和社会效益分析报告，观看了系统演示，审阅了查新报告、测试报告和资料审查报告。

经讨论，专家一致认为：“功率半导体器件直流参数测试系统及标校装置”技术难度大，研制成果满足功率半导体器件测试及相关设备校准需求，整体技术水平达到国际先进水平，其中脉冲大电流幅度校准方法技术属国际领先。“直流低电压/小电流源表校准装置”解决了微纳电子等行业用直流小信号测量设备的溯源问题，为行业的发展提供了支撑，成果总体技术水平达到国际同类产品的先列。“平板显示器运动图像清晰度测试系统”可满足新一代高清平板显示及数字音视频行业计量测试需求，有利支撑了我国自主知识产权标准研制及产品质量检验工作，整体技术上达到国际先进水平，其中基于调制度的动态清晰度测试方法在国际上尚属首次。鉴定委员会一致同意参评的三个项目通过鉴定。

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