【产通社，7月12日讯】泰克公司（Tektronix, Inc.）官网消息，其对USB 3.0测试解决方案进行了一系列增强，包括业内首个针对SuperSpeedPlus 10Gb/s规范的发射器测试解决方案。其他增强包括新USB 3.0基于示波器的分层解码功能，以及针对发射器测试的增强型自动化解决方案，其可使测试吞吐量提高多达60%。

泰克公司高性能示波器总经理Brian Reich表示，“正如USB 3.0等重要行业标准随着时间的推移而发展一样，我们测试与测量工具也必须发展。我们USB测试解决方案的最新增强使工程师能够进行针对最新版USB规范的一致性验证，无缝地解码总线操作以加快调试任务，以及显著减少测试时间，同时进行自动一致性测试。”

产品特点

USB 3.0的更快数据率带来了新的测试挑战，最显著的就是信道损耗的大幅增加和信噪比的减小，以及更复杂的链路训练和必须加以验证的定时要求。随着设计余量的减小，拥有准确和标准的特定测量系统变得空前重要。泰克SuperSpeedPlus USB测试解决方案（选项SSP）可完全满足所有这些需求。

由于更紧张的时间要求和更高的设计复杂性，工程师需要各种灵活的工具来进行跨越多层总线的分析，以更快找出问题所在。泰克USB 3.0解码软件通过协议专属的触发、易于使用的搜索和导航以及多层解码功能来简化调试任务。这使用户能够轻松浏览协议栈，与同一屏幕上的模拟波形具有完全的时间相关性。

新TekExpress USB自动化软件（选项USB-TX）利用泰克的多年USB一致性测试专业知识，同时结合新的软件架构来提供显著的性能改善。客户将会使测试时间减少约60%。例如，以前完成USB 3.0 Tx测试需要12分钟，但现在使用新TekExpress软件只需5分钟。

供货与报价

新TekExpress USB 3.0发射器测试软件（选项USB-TX）和SuperSpeedPlus USB发射器测试软件（选项SSP）将在2013年7月提供下载。查询进一步信息，请访问官方网站http://www.tek.com。