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泰克SATA Gen 3物理层测试方案
日期:2008/11/8 13:37:18   作者:SATA 泰克 测试
您是否正在为最新的SATA物理层设计和调试寻找完善的测试套件?泰克现在为SATA Gen 1和Gen 2标准提供了完整的实现方法(MOI),为串行ATA 3.0提供了第一个测试指南。
 
泰克SATA Gen 3物理层测试的关键组件包括:
(1)AWG7000B任意波形发生器系列,以独特的方式与复杂的状态机交互,对6Gb/s主机和磁盘进行链路状态训练。
(2)DSA/DPO70000示波器系列,市场上唯一能够在五次谐波或以上采集6Gb/s发射信号的多通道示波器,为苛刻的一致性测试和调试测试提供了更大的余量和保真度。
 
下载并阅读《SATA Gen3物理层测试指南》,请访问http://www2.tek.com/cmswpt/tifinder.lotr?va=1&lc=ZH
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 发布人:pr_room
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